[发明专利]基于主成分分析和Topsis的电子部组件评价方法和装置

权利要求书

1.一种基于主成分分析和Topsis的电子部组件评价方法，其特征在于，所述方法包括：

获取评价对象的评价指标，对所述评价指标进行预处理获取预处理结果；所述预处理过程包括对原始数据的标准化处理和基于主成分分析的数据降维处理；

基于Topsis法对所述预处理结果进行综合评价，获取所述评价对象与理想解的距离；所述理想解包括正理想解和负理想解；

基于所述评价对象与理想解的距离，获取评价对象与理想解的相对接近程度，基于所述相对接近程度对所述评价对象进行评价。

2.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述对所述评价指标进行预处理获取预处理结果包括：

对所述评价指标进行标准化处理，获取标准化处理后的数据；

基于所述标准化处理后的数据，进行多维性能参数降维处理，获取预处理结果。

3.根据权利要求2所述的方法，其特征在于，所述进行多维性能参数降维处理，获取预处理结果包括：

计算所述评价指标的相关矩阵，并获取所述相关矩阵的特征值和特征向量；

计算主成分贡献率，基于主成分的累计贡献率确定主成分个数；

基于主成分数据集替换所述评价指标，获取所述预处理结果。

4.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述基于Topsis法对所述预处理结果进行综合评价，获取所述评价对象与理想解的距离包括：

基于所述预处理结果获取正理想解和负理想解；

通过迭代计算，获取各评价对象与所述正理想解的距离，并获取各评价对象与所述负理想解的距离。

5.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述基于所述评价对象与理想解的距离，获取评价对象与理想解的相对接近程度包括：

获取各评价对象的正理想解和负理想解的和；

计算各评价对象的负理想解与所述和的商，作为各评价对象与理想解的相对接近程度。

6.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述基于所述相对接近程度对所述评价对象进行评价包括：

将各评价对象与理想解的相对接近程度按照从大到小的顺序进行排列；

获取相对接近程度排序最靠前的评价对象，作为最优的评价方案。

7.一种基于主成分分析和Topsis的电子部组件评价装置，其特征在于，所述装置包括：

预处理模块，用于获取评价对象的评价指标，对所述评价指标进行预处理获取预处理结果；所述预处理过程包括对原始数据的标准化处理和基于主成分分析的数据降维处理；

距离获取模块，用于基于Topsis法对所述预处理结果进行综合评价，获取所述评价对象与理想解的距离；所述理想解包括正理想解和负理想解；

评价模块，用于基于所述评价对象与理想解的距离，获取评价对象与理想解的相对接近程度，基于所述相对接近程度对所述评价对象进行评价。

8.一种计算机设备，包括存储器和处理器，所述存储器存储有计算机程序，其特征在于，所述处理器执行所述计算机程序时实现权利要求1至6中任一项所述的方法的步骤。

9.一种计算机可读存储介质，其上存储有计算机程序，其特征在于，所述计算机程序被处理器执行时实现权利要求1至6中任一项所述的方法的步骤。

10.一种计算机程序产品，包括计算机程序，其特征在于，该计算机程序被处理器执行时实现权利要求1至6中任一项所述的方法的步骤。