[发明专利]基于主成分分析和Topsis的电子部组件评价方法和装置

说明书

本申请涉及一种基于主成分分析和Topsis的电子部组件评价方法、装置、计算机设备、存储介质和计算机程序产品。所述方法包括：获取评价对象的评价指标，对所述评价指标进行预处理获取预处理结果；所述预处理过程包括对原始数据的标准化处理和基于主成分分析的数据降维处理，基于Topsis法对所述预处理结果进行综合评价，获取所述评价对象与理想解的距离；所述理想解包括正理想解和负理想解，基于所述评价对象与理想解的距离，获取评价对象与理想解的相对接近程度，基于所述相对接近程度对所述评价对象进行评价。采用本方法能够提高评价结果的真实性和准确性。

技术领域

本申请涉及环境效应数据综合评价技术领域，特别是涉及一种基于主成分分析和Topsis的电子部组件评价方法、装置、计算机设备、存储介质和计算机程序产品。

背景技术

在航空电子部组件投入使用之前，往往会通过开展外场环境试验来考核其环境适应性，在试验过程中会产生大量的电子部组件环境效应数据，并且包含多个性能参数，在评估这种电子部组件的性能水平的过程中，为了更全面、更准确地反映电子部组件的整体性能水平需要考虑以下两个方面的问题：一方面，需要考虑尽可能多的指标来避免对电子部组件整体性能水平评价的片面性；另一方面，需要考虑各性能参数之间的相关性而导致的各参数反映的信息在一定程度上有所重叠。

综合评价方法是一种数据分析方法的一种，用于对涵盖多个属性的事物进行评价，常用的综合评价方法包括层次分析法、主成分分析法和理想解法，并且已经在诸多领域得到广泛应用。但结合电子部组件的外场环境试验数据，开展基于电子部组件的环境效应数据综合评价方法研究还比较少，目前该领域内已有采用基于主成分分析的方法对电子部组件的环境效应数据进行综合评价的相关研究。

然而，电子部组件的一些性能参数之间存在较强的相关关系，现有的评价方法不能够消除指标的重叠信息，反而强化了指标之间的重叠信息，使评价结果与指标相关性的关系十分密切。因此，应用主成分分析法进行综合评价时，会使其评价结果存在较大偏差，影响评价结果的准确和真实性。

发明内容

基于此，有必要针对上述技术问题，提供一种能够提高评价结果准确性和真实性的基于主成分分析和Topsis的电子部组件评价方法、装置、计算机设备、计算机可读存储介质和计算机程序产品。

第一方面，本申请提供了一种基于主成分分析和Topsis的电子部组件评价方法。所述方法包括：

获取评价对象的评价指标，对所述评价指标进行预处理获取预处理结果；所述预处理过程包括对原始数据的标准化处理和基于主成分分析的数据降维处理；

基于Topsis法对所述预处理结果进行综合评价，获取所述评价对象与理想解的距离；所述理想解包括正理想解和负理想解；

基于所述评价对象与理想解的距离，获取评价对象与理想解的相对接近程度，基于所述相对接近程度对所述评价对象进行评价。

在其中一个实施例中，所述对所述评价指标进行预处理获取预处理结果包括：

对所述评价指标进行标准化处理，获取标准化处理后的数据；

基于所述标准化处理后的数据，进行多维性能参数降维处理，获取预处理结果。

在其中一个实施例中，所述进行多维性能参数降维处理，获取预处理结果包括：

计算所述评价指标的相关矩阵，并获取所述相关矩阵的特征值和特征向量；

计算主成分贡献率，基于主成分的累计贡献率确定主成分个数；

基于主成分数据集替换所述评价指标，获取所述预处理结果。

在其中一个实施例中，所述基于Topsis法对所述预处理结果进行综合评价，获取所述评价对象与理想解的距离包括：