[发明专利]一种克服XRF粉末压片法测定合金元素粒度效应的方法在审
| 申请号： | 202210017828.2 | 申请日： | 2022-01-07 |
| 公开（公告）号： | CN114371186A | 公开（公告）日： | 2022-04-19 |
| 发明（设计）人： | 王丽晖;杨诺莎;高巍;王海丹;李军伟;张道光;李奎;张雷;潘英胜 | 申请（专利权）人： | 鞍钢股份有限公司 |
| 主分类号： | G01N23/223 | 分类号： | G01N23/223;G01N23/2202 |
| 代理公司： | 鞍山嘉讯科技专利事务所(普通合伙) 21224 | 代理人： | 张群 |
| 地址： | 114000 *** | 国省代码： | 辽宁;21 |
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| 摘要： | |||
| 搜索关键词： | 一种 克服 xrf 粉末 压片 测定 合金 元素 粒度 效应 方法 | ||
【权利要求书】：
1.一种克服XRF粉末压片法测定合金元素粒度效应的方法，其特征在于，制备粒度组成相似的标准样品及待分析样品，具体包括：
1)标准样品及待分析样品分别粗破：将样品破碎至小于3-5mm；
2)标准样品及待分析样品分别细破：将样品破碎至小于2mm以下；
3)标准样品及待分析样品分别研磨：对样品进行研磨；入钵重量50-100g；研磨时间定时为300-500秒，间歇式研磨；
4)标准样品及待分析样品分别筛分分级:研磨后的样品筛分为4级，分别为x1、x2、x3、x4；
x1粒径：0.125mm≤x1粒径＜0.180mm；
x2粒径：0.075mm≤x2粒径＜0.125mm；
x3粒径：0.045mm≤x3粒径＜0.075mm；
x4粒径：x4粒径＜0.045mm；
5)配制标准样品及待分析样品
标准样品及待分析样品按照相同比例配比，按质量配比为：x4大于总量的60％，其余按x1：x2：x3＝1：(1-2)：(2-3)配加；
6)采用x射线荧光光谱仪粉末法进行分析。
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