[发明专利]一种色谱检测修正方法、存储介质及电子设备有效
申请号: | 202210019210.X | 申请日: | 2022-01-10 |
公开(公告)号: | CN114280212B | 公开(公告)日: | 2022-06-03 |
发明(设计)人: | 王东强;冀禹璋 | 申请(专利权)人: | 华谱科仪(北京)科技有限公司 |
主分类号: | G01N30/86 | 分类号: | G01N30/86 |
代理公司: | 北京智慧亮点知识产权代理事务所(普通合伙) 11950 | 代理人: | 史明罡 |
地址: | 100029 北京市朝阳区安*** | 国省代码: | 北京;11 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 一种 色谱 检测 修正 方法 存储 介质 电子设备 | ||
1.一种色谱检测修正方法,其特征在于,所述方法包括以下步骤:
响应色谱仪修正指令,提取目标色谱仪按照预设检测参数对预设检测物进行检测获得的第一色谱图;
获取所述目标色谱仪在出厂时按照预设检测参数对预设检测物检测获得的标准色谱图;
将所述第一色谱图中的色谱峰与所述标准色谱图中对应的色谱峰进行比对,获得所述第一色谱图中的色谱峰与所述标准色谱图中对应的色谱峰的高度差,并筛选获得可修正高度差;
基于所述可修正高度差,计算获得对应的高度修正值;
基于所述高度修正值,对所述目标色谱仪检测待检测物获得的检测色谱图的色谱峰进行修正;其中,
基于所述可修正高度差,计算获得对应的高度修正值中,所述方法包括以下步骤:
基于所述可修正高度差,计算获得对应的可修正高度差平均值;
将所述可修正高度差与所述可修正高度差平均值进行比对,筛除差值超过可修正第一差值的所述可修正高度差,获得对应的二次筛选可修正高度差;
基于所述二次筛选可修正高度差,计算获得对应的二次筛选可修正高度差中位数;
基于所述二次筛选可修正高度差中位数,获得所述高度修正值。
2.如权利要求1所述的色谱检测修正方法,其特征在于,基于所述可修正高度差,计算获得对应的高度修正值中,所述方法包括以下步骤:
基于所述可修正高度差的最大值和最小值,获得可修正高度差区间;
将所述可修正高度差区间拆分为多个可修正高度差子区间;
筛除所述可修正高度差子区间中的所述可修正高度差的个数小于预设的第一区间个数的所述可修正高度差子区间中的所述可修正高度差,将剩余的所述可修正高度差记作剩余可修正高度差;
基于所述剩余可修正高度差,计算获得所述高度修正值。
3.如权利要求1所述的色谱检测修正方法,其特征在于,基于所述可修正高度差,计算获得对应的高度修正值中,所述方法包括以下步骤:
基于所述可修正高度差的最大值和最小值,获得可修正高度差区间;
将所述可修正高度差区间拆分为多个可修正高度差子区间;
筛除所述可修正高度差子区间中的所述可修正高度差的个数小于预设的第一区间个数的所述可修正高度差子区间中的所述可修正高度差,将剩余的所述可修正高度差记作剩余可修正高度差;
基于所述剩余可修正高度差,计算获得对应的剩余可修正高度差平均值;
将所述剩余可修正高度差与所述剩余可修正高度差平均值进行比对,筛除差值超过可修正第一差值的所述剩余可修正高度差,获得对应的二次筛选剩余可修正高度差;
基于所述二次筛选剩余可修正高度差,计算获得对应的二次筛选剩余可修正高度差中位数;
基于所述二次筛选剩余可修正高度差中位数,获得所述高度修正值。
4.如权利要求1所述的色谱检测修正方法,其特征在于,所述方法还包括以下步骤:
当所述第一色谱图中的色谱峰均高于所述标准色谱图中对应的色谱峰,且对应的高度差与所述标准色谱图中对应的色谱峰的高度的比值均小于第一高度比值时,基于各所述高度差计算获得所述可修正高度差,并结合所述第一高度比值对应的修正系数,计算获得对应的高度修正值;
当所述第一色谱图中的色谱峰均低于所述标准色谱图中对应的色谱峰,且所述高度差与所述标准色谱图中对应的色谱峰的高度的比值均小于第二高度比值时,基于各所述高度差计算获得所述可修正高度差,并结合所述第二高度比值对应的修正系数,计算获得对应的高度修正值。
5.如权利要求4所述的色谱检测修正方法,其特征在于,提取目标色谱仪按照预设检测参数对预设检测物进行检测获得的第一色谱图之前,所述方法还包括以下步骤:
实时记录所述目标色谱仪的使用次数,当所述目标色谱仪的使用次数超过预设的使用修正阈值时,生成所述色谱仪修正指令。
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