[发明专利]一种色谱检测修正方法、存储介质及电子设备

说明书

本申请涉及一种色谱检测修正方法、存储介质及电子设备，涉及色谱仪技术领域，该方法包括以下步骤：提取目标色谱仪按照预设检测参数对预设检测物进行检测获得的第一色谱图；获取目标色谱仪在出厂时按照预设检测参数对预设检测物检测获得的标准色谱图；将第一色谱图的色谱峰与标准色谱图对应的色谱峰进行比对，筛选获得可修正高度差；基于可修正高度差，计算获得对应的高度修正值，对目标色谱仪检测待检测物获得的检测色谱图的色谱峰进行修正。本申请基于预设检测物和预设检测参数进行检测，根据各色谱峰的高度差异分析掌握色谱仪的设备误差状况，对色谱仪后续的日常色谱分析工作进行修正，在一定程度上提高色谱仪的检测准确性和可靠性。

技术领域

本申请涉及色谱仪技术领域，具体涉及一种色谱检测修正方法、存储介质及电子设备。

背景技术

现阶段，色谱仪广泛应用于对试样中的成分进行鉴定或者定量。色谱仪在对试样进行分析时，检测获得对应的色谱图，基于色谱图的色谱峰峰的位置进行成分鉴定，基于色谱峰的面积、高度对该成分进行定量分析。

随着色谱仪的日常使用，色谱仪可能由于使用习惯或存放环境造成一定的设备老化或设备损坏，从而造成一定的检测误差。若获得的色谱图出现明显的检测误差，则会导致最终获得误差较大的分析结果。

因此，为避免色谱仪因长期使用造成的检测误差，现提供一种色谱检测修正技术。

发明内容

本申请提供一种色谱检测修正方法、存储介质及电子设备，基于预设检测物和预设检测参数进行检测，根据各色谱峰的高度差异分析掌握色谱仪的设备误差状况，对色谱仪后续的日常色谱分析工作进行修正，在一定程度上提高色谱仪的检测准确性和可靠性。

第一方面，本申请提供了一种色谱检测修正方法，所述方法包括以下步骤：

响应色谱仪修正指令，提取目标色谱仪按照预设检测参数对预设检测物进行检测获得的第一色谱图；

获取所述目标色谱仪在出厂时按照预设检测参数对预设检测物检测获得的标准色谱图；

将所述第一色谱图中的色谱峰与所述标准色谱图中对应的色谱峰进行比对，获得所述第一色谱图中的色谱峰与所述标准色谱图中对应的色谱峰的高度差，并筛选获得可修正高度差；

基于所述可修正高度差，计算获得对应的高度修正值；

基于所述高度修正值，对所述目标色谱仪检测待检测物获得的检测色谱图的色谱峰进行修正；其中，

基于所述可修正高度差，计算获得对应的高度修正值中，所述方法包括以下步骤：

基于所述可修正高度差，计算获得对应的可修正高度差平均值；

将所述可修正高度差与所述可修正高度差平均值进行比对，筛除差值超过可修正第一差值的所述可修正高度差，获得对应的二次筛选可修正高度差；

基于所述二次筛选可修正高度差，计算获得对应的二次筛选可修正高度差中位数；

基于所述二次筛选可修正高度差中位数，获得所述高度修正值。

具体的，基于所述可修正高度差，计算获得对应的高度修正值中，所述方法包括以下步骤：

基于所述可修正高度差的最大值和最小值，获得可修正高度差区间；

将所述可修正高度差区间拆分为多个可修正高度差子区间；

筛除所述可修正高度差子区间中的所述可修正高度差的个数小于预设的第一区间个数的所述可修正高度差子区间中的所述可修正高度差，将剩余的所述可修正高度差记作剩余可修正高度差；

基于所述剩余可修正高度差，计算获得所述高度修正值。