[发明专利]声波谐振器封装件在审
申请号: | 202210021989.9 | 申请日: | 2022-01-10 |
公开(公告)号: | CN115473507A | 公开(公告)日: | 2022-12-13 |
发明(设计)人: | 李泰京;韩相宪;李华善;严在君;韩成 | 申请(专利权)人: | 三星电机株式会社 |
主分类号: | H03H9/17 | 分类号: | H03H9/17;H03H9/25;H03H9/05 |
代理公司: | 北京铭硕知识产权代理有限公司 11286 | 代理人: | 刘力夫;钱海洋 |
地址: | 韩国京畿*** | 国省代码: | 暂无信息 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 声波 谐振器 封装 | ||
1.一种声波谐振器封装件,包括:
声波谐振器,设置在基板的第一表面上;
盖,设置为面向所述基板的所述第一表面;
结合构件,设置在所述基板与所述盖之间,并且被构造为将所述声波谐振器的结合表面与所述盖彼此结合,
其中,所述结合构件包含玻璃熔块,并且
其中,所述声波谐振器的所述结合表面利用介电材料形成。
2.如权利要求1所述的声波谐振器封装件,其中,所述盖利用玻璃材料形成。
3.如权利要求1所述的声波谐振器封装件,其中,所述结合构件沿着所述盖的边缘设置,并且设置为连续地围绕所述声波谐振器。
4.如权利要求1所述的声波谐振器封装件,其中,所述结合构件包含V2O3、TaO2、B2O3、ZnO和Bi2O3中的任意一种。
5.如权利要求1所述的声波谐振器封装件,其中,所述声波谐振器的所述结合表面利用SiO2、Si3N4、TiO2、Al2O3、AlN、ZrO2、非晶硅和多晶硅中的任意一种形成。
6.如权利要求1所述的声波谐振器封装件,其中,所述声波谐振器包括具有依次堆叠在所述基板上的第一电极、压电层和第二电极的谐振器。
7.如权利要求6所述的声波谐振器封装件,其中,所述声波谐振器还包括沿着所述声波谐振器的表面设置的保护层,并且
其中,所述结合构件结合到所述保护层。
8.如权利要求7所述的声波谐振器封装件,其中,所述保护层利用SiO2、Si3N4、MgO、ZrO2、TiO2、Al2O3、AlN、锆钛酸铅、GaAs、HfO2、ZrO2、ZnO、金刚石、非晶硅和多晶硅中的任意一种形成。
9.如权利要求6所述的声波谐振器封装件,其中,所述声波谐振器还包括支撑层,所述支撑层设置在所述谐振器和所述基板之间,并且被构造为将所述谐振器和所述基板间隔开预定距离,并且
其中,所述结合构件结合到所述支撑层。
10.如权利要求9所述的声波谐振器封装件,其中,所述支撑层利用多晶硅材料形成。
11.如权利要求1所述的声波谐振器封装件,所述声波谐振器封装件还包括支撑部,所述支撑部设置在所述声波谐振器上,并且被构造为面向所述结合构件,
其中,所述支撑部的上表面被构造为形成所述声波谐振器的结合表面。
12.如权利要求11所述的声波谐振器封装件,其中,所述支撑部的上端设置为比所述声波谐振器的上端更靠近所述盖。
13.如权利要求1所述的声波谐振器封装件,其中,所述盖被构造为在面向所述声波谐振器的区域中具有凹槽。
14.如权利要求1所述的声波谐振器封装件,其中,所述声波谐振器还包括沿着所述声波谐振器的表面设置的疏水层。
15.如权利要求1所述的声波谐振器封装件,所述声波谐振器封装件还包括:
连接端子,设置在所述基板的第二表面上;以及
连接导体,设置为穿过所述基板并将所述声波谐振器和所述连接端子电连接。
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