[发明专利]读取电压电平校正方法、存储器存储装置及控制电路单元在审
申请号: | 202210022113.6 | 申请日: | 2022-01-10 |
公开(公告)号: | CN114360612A | 公开(公告)日: | 2022-04-15 |
发明(设计)人: | 曾士家;曹峻玮;林晓宜;林纬 | 申请(专利权)人: | 群联电子股份有限公司 |
主分类号: | G11C16/26 | 分类号: | G11C16/26;G11C16/30;G11C7/08;G11C5/14 |
代理公司: | 北京同立钧成知识产权代理有限公司 11205 | 代理人: | 宋兴;臧建明 |
地址: | 中国台湾*** | 国省代码: | 台湾;71 |
权利要求书: | 查看更多 | 说明书: | 查看更多 |
摘要: | |||
搜索关键词: | 读取 电压 电平 校正 方法 存储器 存储 装置 控制电路 单元 | ||
1.一种读取电压电平校正方法,用于可复写式非易失性存储器模块,所述可复写式非易失性存储器模块包括多个实体单元,所述方法包括:
使用第一读取电压电平作为起始读取电压电平来对所述多个实体单元中的第一实体单元执行第一数据读取操作,以取得被用来成功读取所述第一实体单元的第二读取电压电平;
将所述第一读取电压电平以及所述第二读取电压电平之间的关联信息记录在暂态查找表;以及
根据读取电压电平追踪表以及所述暂态查找表中所记录的所述关联信息执行第二数据读取操作,
其中所述读取电压电平追踪表记录所述多个实体单元的多个最佳读取电压电平。
2.根据权利要求1所述的读取电压电平校正方法,其中使用所述第一读取电压电平作为所述起始读取电压电平来对所述多个实体单元中的所述第一实体单元执行所述第一数据读取操作的步骤还包括:
从所述读取电压电平追踪表中取得对应于所述第一实体单元的第一最佳读取电压电平作为所述第一读取电压电平。
3.根据权利要求1所述的读取电压电平校正方法,其中使用所述第一读取电压电平作为所述起始读取电压电平来对所述多个实体单元中的所述第一实体单元执行所述第一数据读取操作的步骤还包括:
根据所述读取电压电平追踪表以及所述暂态查找表中所记录的所述关联信息决定所述第一读取电压电平。
4.根据权利要求1所述的读取电压电平校正方法,其中所述方法包括:
在使用所述第一读取电压电平作为所述起始读取电压电平来对所述多个实体单元中的所述第一实体单元执行所述第一数据读取操作时或根据所述读取电压电平追踪表以及所述暂态查找表中所记录的所述关联信息执行所述第二数据读取操作时执行解码操作。
5.根据权利要求1所述的读取电压电平校正方法,其中将所述第一读取电压电平以及所述第二读取电压电平之间的所述关联信息记录在所述暂态查找表的步骤包括:
对所述第一读取电压电平以及所述第二读取电压电平之间具有关联性的次数进行计数而产生计数值;以及
将所述计数值记录在所述暂态查找表中。
6.根据权利要求5所述的读取电压电平校正方法,其中根据所述读取电压电平追踪表以及所述暂态查找表中所记录的所述关联信息执行所述第二数据读取操作的步骤包括:
在所述第二数据读取操作指示读取所述多个实体单元中的第二实体单元的数据时,从所述读取电压电平追踪表中取得所述第二实体单元的第二最佳读取电压电平;以及
根据所述第二最佳读取电压电平或所述第二最佳读取电压电平对应的索引值查找暂态查找表,以根据多个所述计数值大到小的顺序依序取得所述计数值所对应的所述第二读取电压电平作为执行所述第二数据读取操作的起始读取电压电平。
7.根据权利要求1所述的读取电压电平校正方法,其中所述方法还包括:
根据所述暂态查找表中记录的所述关联信息来更新所述读取电压电平追踪表;以及
在更新所述读取电压电平追踪表后清除所述暂态查找表。
8.一种存储器存储装置,包括:
连接接口单元,用以耦接至主机系统;
可复写式非易失性存储器模块,包括多个实体单元;以及
存储器控制电路单元,耦接至所述连接接口单元与所述可复写式非易失性存储器模块,
其中所述存储器控制电路单元用以使用第一读取电压电平作为起始读取电压电平来对所述多个实体单元中的第一实体单元执行第一数据读取操作,以取得被用来成功读取所述第一实体单元的第二读取电压电平,
所述存储器控制电路单元还用以将所述第一读取电压电平以及所述第二读取电压电平之间的关联信息记录在暂态查找表,并且
所述存储器控制电路单元还用以根据读取电压电平追踪表以及所述暂态查找表中所记录的所述关联信息执行第二数据读取操作,
其中所述读取电压电平追踪表记录所述多个实体单元的多个最佳读取电压电平。
该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息,商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于群联电子股份有限公司,未经群联电子股份有限公司许可,擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作,请联系【客服】
本文链接:http://www.vipzhuanli.com/pat/books/202210022113.6/1.html,转载请声明来源钻瓜专利网。
- 上一篇:多酚氧化酶及其编码基因和应用
- 下一篇:寄生参数的获取方法以及设备