[发明专利]双MEMS惯性测量单元的数据处理方法及双MEMS惯性测量装置在审
申请号: | 202210027900.X | 申请日: | 2022-01-11 |
公开(公告)号: | CN114323012A | 公开(公告)日: | 2022-04-12 |
发明(设计)人: | 胡松;李荣熙;司徒春辉;李楠 | 申请(专利权)人: | 广州导远电子科技有限公司 |
主分类号: | G01C21/16 | 分类号: | G01C21/16;G01C21/20 |
代理公司: | 北京超凡宏宇专利代理事务所(特殊普通合伙) 11463 | 代理人: | 杨奇松 |
地址: | 广东省广州市高新技术产业*** | 国省代码: | 广东;44 |
权利要求书: | 查看更多 | 说明书: | 查看更多 |
摘要: | |||
搜索关键词: | mems 惯性 测量 单元 数据处理 方法 装置 | ||
1.一种双MEMS惯性测量单元的数据处理方法,其特征在于,所述双MEMS惯性测量单元包括第一惯性传感器和第二惯性传感器,所述方法包括:
获取所述双MEMS惯性测量单元的标定数据;
获取所述第一惯性传感器采集的第一传感器数据和所述第二惯性传感器采集的第二传感器数据;
对所述第一传感器数据和所述第二传感器数据进行处理,获得惯性测量数据;
根据所述标定数据对所述惯性测量数据进行补偿,获得惯性测量结果。
2.根据权利要求1所述的双MEMS惯性测量单元的数据处理方法,其特征在于,在所述获取所述第一惯性传感器采集的第一传感器数据和所述第二惯性传感器采集的第二传感器数据的步骤之前,还包括:
对所述双MEMS惯性测量单元进行自检,生成自检结果。
3.根据权利要求2所述的双MEMS惯性测量单元的数据处理方法,其特征在于,所述对所述双MEMS惯性测量单元进行自检,生成自检结果的步骤,包括:
对所述双MEMS惯性测量单元的自检寄存器进行第一次配置,并获取第一惯性测量自检数据;
对所述双MEMS惯性测量单元的自检寄存器进行第二次配置,并获取第二惯性测量自检数据;
根据所述第一惯性测量自检数据和所述第二惯性测量自检数据的差值生成所述自检结果。
4.根据权利要求1所述的双MEMS惯性测量单元的数据处理方法,其特征在于,所述标定数据通过通讯接口写入并保存在所述双MEMS惯性测量单元的内部存储器中,所述获取所述双MEMS惯性测量单元的标定数据的步骤,包括:
在所述双MEMS惯性测量单元上电后执行所述内部存储器的读操作,读取所述标定数据。
5.根据权利要求1所述的双MEMS惯性测量单元的数据处理方法,其特征在于,在所述对所述第一传感器数据和所述第二传感器数据进行处理,获得惯性测量数据的步骤之前,还包括:
获取所述双MEMS惯性测量单元的配置数据;
根据所述配置数据获得所述双MEMS惯性测量单元的输出频率;
根据所述输出频率对所述第一传感器数据和所述第二传感器数据进行滤波处理,获得第一滤波传感器数据和第二滤波传感器数据。
6.根据权利要求5所述的双MEMS惯性测量单元的数据处理方法,其特征在于,所述根据所述输出频率对所述第一传感器数据和所述第二传感器数据进行滤波处理,获得第一滤波传感器数据和第二滤波传感器数据的步骤,包括:
根据所述输出频率对所述第一传感器数据和所述第二传感器数据进行均值滤波处理,获得所述第一滤波传感器数据和所述第二滤波传感器数据。
7.根据权利要求5所述的双MEMS惯性测量单元的数据处理方法,其特征在于,所述对所述第一传感器数据和所述第二传感器数据进行处理,获得惯性测量数据的步骤,包括:
对所述第一滤波传感器数据和所述第二滤波传感器数据进行均值处理,获得所述惯性测量数据。
8.根据权利要求6所述的双MEMS惯性测量单元的数据处理方法,其特征在于,在所述对所述第一滤波传感器数据和所述第二滤波传感器数据进行均值处理,获得所述惯性测量数据的步骤之前,还包括:
定义所述双MEMS惯性测量单元的整体坐标方向;
根据所述整体坐标方向适配所述第一惯性传感器的轴向和/或所述第二惯性传感器的轴向。
9.根据权利要求1所述的双MEMS惯性测量单元的数据处理方法,其特征在于,在所述对所述第一传感器数据和所述第二传感器数据进行处理,获得惯性测量数据的步骤之后,还包括:
根据所述惯性测量数据输出未补偿的三轴加速度数据和三轴角速度数据。
该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息,商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于广州导远电子科技有限公司,未经广州导远电子科技有限公司许可,擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作,请联系【客服】
本文链接:http://www.vipzhuanli.com/pat/books/202210027900.X/1.html,转载请声明来源钻瓜专利网。