[发明专利]一种提高数据读取的成功率的方法、装置及介质有效
申请号: | 202210034592.3 | 申请日: | 2022-01-13 |
公开(公告)号: | CN114047887B | 公开(公告)日: | 2022-04-22 |
发明(设计)人: | 张志彬;李瑞东;钟戟 | 申请(专利权)人: | 苏州浪潮智能科技有限公司 |
主分类号: | G06F3/06 | 分类号: | G06F3/06;G06F16/22 |
代理公司: | 北京集佳知识产权代理有限公司 11227 | 代理人: | 刘珂 |
地址: | 215100 江苏省苏州市吴*** | 国省代码: | 江苏;32 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 一种 提高 数据 读取 成功率 方法 装置 介质 | ||
1.一种提高数据读取的成功率的方法,其特征在于,包括:
获取参考电压候选表中的多个参考电压和以解码单元为单位的测试样本数据的读操作信息,其中,获取所述以解码单元为单位的测试样本数据的读操作信息,具体通过以下步骤获得:
获取多个闪存颗粒的存储块数据;
将多个所述闪存颗粒根据闪存擦/写次数阶段的预设间隔对应不同的闪存擦/写次数阶段,将所述存储块数据根据数据保留时间阶段的预设间隔对应所述闪存擦/写次数阶段下的不同数据保留时间阶段;
根据不同所述数据保留时间阶段的所述存储块数据执行对应的数据保留时间操作;
根据所述参考电压候选表中的多个参考电压对所述数据保留时间阶段下对应读干扰操作阶段下的所述存储块数据进行读操作并记录所述读操作信息;
将所述闪存擦/写次数阶段的所述读操作信息根据所述参考电压候选表对应的闪存擦/写次数间隔将对应的所述读操作信息进行合并得到所述测试样本数据的读操作信息;
将所述测试样本数据的读操作信息以存储块形式转换为以所述解码单元为单位的所述测试样本数据的读操作信息;
读取各所述参考电压下所述测试样本数据的读操作的成功样本数并计算各成功率,其中所述成功样本数为所述测试样本数据的错误比特数小于解码纠错限值的样本数;
根据各所述成功率选取对应的参考电压组以生成固定查表;
根据所述固定查表的目标参考电压读取所述数据。
2.根据权利要求1所述的提高数据读取的成功率的方法,其特征在于,所述参考电压组包括第一目标参考电压,所述根据各所述成功率选取对应的参考电压组以生成固定查表,包括:
将各所述成功率从大到小进行排序生成成功率表;
在所述成功率表中选取各所述成功率大于第一限值对应的参考电压,并将所述参考电压加入第一候选表中;
选取所述第一候选表中成功率最大的测试样本数据对应的参考电压作为所述第一目标参考电压并生成所述固定查表。
3.根据权利要求2所述的提高数据读取的成功率的方法,其特征在于,所述参考电压组包括所述第一目标参考电压和第二目标参考电压,所述根据各所述成功率选取对应的参考电压组以生成固定查表,包括:
记录在所述第一目标参考电压下读取所述测试样本数据的读操作的成功样本数并将所述测试样本数据失败的数据作为第一位置信息;
在所述参考电压候选表中选取除所述第一目标参考电压之外的剩余参考电压并加入第二候选表中;
选取所述第二候选表中成功率最大的测试样本数据对应的参考电压作为所述第二目标参考电压;
记录所述第二目标参考电压读取所述第一位置信息中的测试样本数据,当所述第一位置信息中的测试样本数据在所述第二目标参考电压下读取失败时记录为第二位置信息;
统计所述第二目标参考电压在所述第一位置信息中读取的成功样本数据和在所述第二位置信息下的失败样本数据并计算第一成功率;
在所述第二候选表中判断所述第一成功率是否大于第二限值,其中所述第二限值大于所述第一限值;
若是,则保存所述第二目标参考电压;
将所述第一目标参考电压与所述第二目标参考电压作为所述参考电压组生成所述固定查表。
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