[发明专利]RFID芯片阻抗及灵敏度的测试方法、装置及电子设备

权利要求书

1.一种RFID芯片阻抗及灵敏度的测试方法，其特征在于，所述方法包括：

获取至少三个公版标签天线中每个公版标签天线在预设频率下的天线阻抗值和天线增益；

依次获取多个芯片中每个芯片与所述至少三个公版标签天线相连后形成的至少三个标签中每个标签的标签灵敏度，其中，所述多个芯片包括待测芯片和至少一个与所述待测芯片同型号的芯片；

根据所述标签灵敏度、所述天线阻抗值和所述天线增益获取所述多个芯片中每个芯片的芯片阻抗值和芯片灵敏度；其中，通过对以下公式求解获得所述多个芯片中任意一个芯片的芯片阻抗值和芯片灵敏度：

其中，为第1个公版标签天线的天线增益，为第2个公版标签天线的天线增益，为第3个公版标签天线的天线增益，为所述第1个公版标签天线的天线阻抗值的共轭，为所述第2个公版标签天线的天线阻抗值的共轭，为所述第3个公版标签天线的天线阻抗值的共轭，为所述任意一个芯片与所述第1个公版标签天线相连后形成的第1个标签的标签灵敏度、为所述任意一个芯片与所述第2个公版标签天线相连后形成的第2个标签的标签灵敏度，为所述任意一个芯片与所述第3个公版标签相连后形成的第3个标签的标签灵敏度，为所述任意一个芯片的芯片灵敏度，为所述任意一个芯片的芯片阻抗值；

根据所述多个芯片中每个芯片的芯片阻抗值和芯片灵敏度，获取所述待测芯片的芯片阻抗值和芯片灵敏度；其中包括：获取所述多个芯片的芯片阻抗值中有效的芯片阻抗值，并获取所述有效的芯片阻抗值的平均值以获得所述待测芯片的芯片阻抗值；获取所述多个芯片的芯片灵敏度中有效的芯片灵敏度，并获取所述有效的芯片灵敏度的平均值以获得所述待测芯片的芯片灵敏度；

根据所述芯片阻抗值和所述预设频率获取所述待测芯片的电阻值和电容值；根据所述电阻值和所述电容值获取所述待测芯片在其它频率下的芯片阻抗值。

2.根据权利要求1所述的RFID芯片阻抗及灵敏度的测试方法，其特征在于，所述每个公版标签天线均包括标签天线和连接器，且所述标签天线的阻抗值均不同。

3.根据权利要求2所述的RFID芯片阻抗及灵敏度的测试方法，其特征在于，所述获取至少三个公版标签天线中每个公版标签天线在预设频率下的天线阻抗值和天线增益，包括：

对所述每个公版标签天线中的标签天线和连接器整体仿真，以获得所述每个公版标签天线在预设频率下的天线阻抗值和天线增益。

4.根据权利要求2所述的RFID芯片阻抗及灵敏度的测试方法，其特征在于，所述每个芯片均通过所述连接器与所述至少三个公版标签天线相连。

5.根据权利要求1所述的RFID芯片阻抗及灵敏度的测试方法，其特征在于，所述获取所述多个芯片的芯片阻抗值中有效的芯片阻抗值，包括：

对所述多个芯片的芯片阻抗值进行正态分布计算，以获得所述有效的芯片阻抗值。

6.根据权利要求1所述的RFID芯片阻抗及灵敏度的测试方法，其特征在于，所述获取所述多个芯片的芯片灵敏度中有效的芯片灵敏度，包括：

对所述多个芯片的芯片灵敏度进行正态分布计算，以获得所述有效的芯片灵敏度。

7.一种计算机可读存储介质，其特征在于，其上存储有RFID芯片阻抗及灵敏度的测试程序，该RFID芯片阻抗及灵敏度的测试程序被处理器执行时实现根据权利要求1-6中任一项所述的RFID芯片阻抗及灵敏度的测试方法。

8.一种电子设备，其特征在于，包括：存储器、处理器及存储在所述存储器上并可在所述处理器上运行的RFID芯片阻抗及灵敏度的测试程序，所述处理器执行所述程序时，实现根据权利要求1-6中任一项所述的RFID芯片阻抗及灵敏度的测试方法。