[发明专利]RFID芯片阻抗及灵敏度的测试方法、装置及电子设备

说明书

本发明公开了一种RFID芯片阻抗及灵敏度的测试方法、装置及电子设备，其中方法包括：获取至少三个公版标签天线中每个公版标签天线的天线阻抗值和天线增益；依次获取多个芯片中每个芯片与至少三个公版标签天线相连后形成的至少三个标签中每个标签的标签灵敏度，其中，多个芯片包括待测芯片和至少一个与待测芯片同型号的芯片；根据标签灵敏度、天线阻抗值和天线增益获取多个芯片中每个芯片的芯片阻抗值和芯片灵敏度；根据多个芯片中每个芯片的芯片阻抗值和芯片灵敏度，获取待测芯片的芯片阻抗值和芯片灵敏度。由此，能够准确高效的测试出芯片的阻抗值和芯片灵敏度，从而有利于设计出性能更加优异的天线以及获得灵敏度更高的标签。

技术领域

本发明涉及芯片测试技术领域，尤其涉及一种RFID芯片阻抗及灵敏度的测试方法、装置及电子设备。

背景技术

RFID（Radio Frequency Identification，射频识别）的标签天线与芯片的共轭匹配度对标签性能的好坏至关重要，芯片的准确度越高就越能发挥出芯片的使用性能，为了准确测量出芯片的阻抗值以及灵敏度，芯片工程师以及标签天线工程师进行了长期的探索，公告号为CN108107339B的专利文件通过遍历芯片阻抗值和芯片灵敏度来获得标签灵敏度的计算值，并通过比较标签灵敏度的测试值与计算值来确定正确的芯片阻抗值和芯片灵敏度，但该方式需要遍历芯片阻抗值和芯片灵敏度后才能确定正确的芯片阻抗值和芯片灵敏度，因此需要天线工程师进行多次阻抗匹配摸索，难以快速高效测试出标签芯片的正确阻抗值以及灵敏度，从而不利于设计出性能优异的天线以及获得灵敏度更高的标签。

发明内容

本发明旨在至少在一定程度上解决相关技术中的技术问题之一。为此，本发明的第一个目的在于提出一种RFID芯片阻抗及灵敏度的测试方法，该方法能够准确高效的测试出芯片的阻抗值和芯片灵敏度，从而有利于设计出性能更加优异的天线以及获得灵敏度更高的标签。

本发明的第二个目的在于提出一种计算机可读存储介质。

本发明的第三个目的在于提出一种电子设备。

本发明的第四个目的在于提出一种RFID芯片阻抗及灵敏度的测试装置。

为达到上述目的，本发明第一方面实施例提出了一种RFID芯片阻抗及灵敏度的测试方法，方法包括：获取至少三个公版标签天线中每个公版标签天线的天线阻抗值和天线增益；依次获取多个芯片中每个芯片与至少三个公版标签天线相连后形成的至少三个标签中每个标签的标签灵敏度，其中，多个芯片包括待测芯片和至少一个与待测芯片同型号的芯片；根据标签灵敏度、天线阻抗值和天线增益获取多个芯片中每个芯片的芯片阻抗值和芯片灵敏度；根据多个芯片中每个芯片的芯片阻抗值和芯片灵敏度，获取待测芯片的芯片阻抗值和芯片灵敏度。

根据本发明实施例的RFID芯片阻抗及灵敏度的测试方法，通过获取至少三个公版标签天线中每个公版标签天线的天线阻抗值和天线增益，以及依次获取多个芯片中每个芯片与至少三个公版标签天线相连后形成的至少三个标签中每个标签的标签灵敏度，根据获得的标签灵敏度、天线阻抗值和天线增益获取多个芯片中每个芯片的芯片阻抗值和芯片灵敏度，并根据多个芯片中每个芯片的芯片阻抗值和芯片灵敏度，获取待测芯片的芯片阻抗值和芯片灵敏度。由此，能够准确高效的测试出芯片的阻抗值和芯片灵敏度，从而有利于设计出性能更加优异的天线以及获得灵敏度更高的标签。

根据本发明的一个实施例，每个公版标签天线均包括标签天线和连接器，且标签天线的阻抗值均不同。

根据本发明的一个实施例，获取至少三个公版标签天线中每个公版标签天线的天线阻抗值和天线增益，包括：对每个公版标签天线中的标签天线和连接器整体仿真，以获得每个公版标签天线在预设频率下的天线阻抗值和天线增益。

根据本发明的一个实施例，每个芯片均通过连接器与至少三个公版标签天线相连。

根据本发明的一个实施例，通过对以下公式求解获得多个芯片中任意一个芯片的芯片阻抗值和芯片灵敏度：