[发明专利]一种用于提高显示器Mura测量精度的迭代测量方法有效
申请号: | 202210042244.0 | 申请日: | 2022-01-14 |
公开(公告)号: | CN114299062B | 公开(公告)日: | 2023-03-17 |
发明(设计)人: | 蔡剑;李堃;黄鉴;叶选新;蔡杰羽;石炳磊;白海楠;朱诗文 | 申请(专利权)人: | 苇创微电子(上海)有限公司 |
主分类号: | G06T7/00 | 分类号: | G06T7/00 |
代理公司: | 广州京诺知识产权代理有限公司 44407 | 代理人: | 于睿虬 |
地址: | 201306 上海市浦东新区中国(上*** | 国省代码: | 上海;31 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 一种 用于 提高 显示器 mura 测量 精度 测量方法 | ||
1.一种用于提高显示器Mura测量精度的迭代测量方法,其特征在于,包括以下步骤:
S1输入:将一个纯色图像作为输入灰阶图像,输入待测显示屏;
S2拍摄:拍摄待测显示屏显示的输入灰阶图像;
S3提图:对拍摄得到的输入灰阶图像提取各子像素的子像素亮度值;
S4统计方差:统计子像素亮度值的统计分布方差,n为执行S4的次序数,n为正整数;
S5输出判断:若满足预设的输出条件,则通过校验,输出当前的输入灰阶图像;若不满足预设的输出条件,则执行S6计算补图;
S6计算补图:对子像素亮度值进行计算,获得各子像素的补图灰阶值;
S7迭代:将当前的补图灰阶值作为新的输入灰阶图像,输入待测显示屏,回到S2进行迭代;
S5中输出的图像即为本方法测量得到的校准数据。
2.根据权利要求1所述的用于提高显示器Mura测量精度的迭代测量方法,其特征在于,所述预设的输出条件具体为:
在第一次计算补图前,输出条件为:,其中,k为预设的常数,L1为初始图像中各子像素的子像素亮度值,为L1的平均值;
在第一次计算补图后,输出条件为:/>0.95。
3.根据权利要求1所述的用于提高显示器Mura测量精度的迭代测量方法,其特征在于,所述预设的输出条件具体为:
n达到预设的迭代次数上限值。
4.根据权利要求1所述的用于提高显示器Mura测量精度的迭代测量方法,其特征在于,S6具体为:
计算;
其中,为各子像素的子像素亮度值,为各子像素的亮度目标值,(x)为待测显示屏的反伽马函数,为各子像素的补图灰阶值,为对应的输入灰阶图像的灰阶值,i表示第i个子像素;当n=1时,为S1中初始的输入灰阶图像的灰阶值。
5.根据权利要求4所述的用于提高显示器Mura测量精度的迭代测量方法,其特征在于,所述亮度目标值为各子像素的平均值。
6.根据权利要求4所述的用于提高显示器Mura测量精度的迭代测量方法,其特征在于,,其中为待测显示屏的伽马系数。
7.根据权利要求1所述的用于提高显示器Mura测量精度的迭代测量方法,其特征在于,S6具体为:
将子像素亮度值与相同纯色的其他灰阶图像的对应子像素亮度值进行拟合,计算获得各子像素的补图灰阶值。
8.根据权利要求7所述的用于提高显示器Mura测量精度的迭代测量方法,其特征在于,S6具体为:
对于各个子像素,根据子像素亮度值的大小,选择参与拟合的另一灰阶图像的对应子像素亮度值,连线得到线段,通过线性拟合计算获得补图灰阶值。
9.根据权利要求8所述的用于提高显示器Mura测量精度的迭代测量方法,其特征在于,S6具体为:
对每一个子像素i的第j个灰阶值G(j),根据其在该灰阶的亮度实测值、在相邻灰阶的亮度实测值和、以及该灰阶的目标亮度值的大小关系,分别进行如下计算:
情况(1):若,则计算
;
情况(2):若,则计算
;
情况(3):若,则计算;
若该灰阶为最小的灰阶值,则按情况(2)计算;
若该灰阶为最大的灰阶值,则按情况(1)计算;
其中,目标亮度值为该灰阶下各子像素中心区域的平均亮度值。
10.根据权利要求7所述的用于提高显示器Mura测量精度的迭代测量方法,其特征在于,S6具体为:
对于各个子像素,选择若干个灰阶图像,将子像素亮度值与相同纯色的其他灰阶图像的对应子像素亮度值进行曲线拟合,计算获得补图灰阶值。
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