[发明专利]一种用于提高显示器Mura测量精度的迭代测量方法

说明书

本发明公开了一种用于提高显示器Mura测量精度的迭代测量方法，包括：S1将一个纯色图像作为输入灰阶图像，输入待测显示屏；S2拍摄待测显示屏显示的输入灰阶图像；S3对拍摄得到的输入灰阶图像提取各子像素的子像素亮度值；S4统计子像素亮度值的统计分布方差；S5若不满足预设的输出条件，则执行S6；S6对子像素亮度值进行计算，获得各子像素的补图灰阶值；S7将当前的补图灰阶值作为新的输入灰阶图像，输入待测显示屏，回到S2进行迭代。本发明能够进一步甄别出DeMura精度较低或失败的情况，进行进一步的迭代处理，以提高DeMura精度及成功率。

技术领域

本发明涉及一种用于提高显示器Mura测量精度的迭代测量方法，属于显示制造领域。

背景技术

在现有技术中，使用电流驱动的自发光显示器（包括OLED显示屏、MiniLED显示屏以及未来的MicroLED显示屏）由于制造工艺的限制，会产生子像素级别的电路上的不一致性。这种不一致性表现在显示上，即为一种整体或局部的显示不均匀性，表现为块状，沙装，点状等等，这种不均匀性统称为Mura（指显示器亮度不均匀, 造成各种痕迹的现象）。Mura通常有亮度Mura和色Mura两种，表示亮度的不均匀性和颜色的不均匀性，目前限制Mura是国产OLED生产良率的主要因素之一。而对于显示器的Mura校准通常称为DeMura。

目前业界常用的DeMura方案包括以下几个步骤：拍摄、提图、建模、压缩和显示驱动芯片（DriverIC）算法处理。但是针对现有的拍摄工序，由于成像亮度计本身的一致性以及线性可能并不理想，会带来一定的误差。同时提图的时候，由于空间采样的倍率非整数，会产生采样的相位不一致，从而导致提图的模式不同，也会产生误差。比如很难避免的是提图的数据会有周期性的条纹产生，俗称摩尔纹（Moire）。提图软件在处理摩尔纹的时候会使用某些滤波算法，这些算法也会人为产生误差。理想的拍摄提图，能够精准的获得每个子像素的显示特性（不一致性），但不理想的拍摄和提图，往往会导致DeMura的精度较低，甚至造成DeMura的失败。

因此，急需一种能够提高显示器Mura测量精度的方法，能够进一步甄别出DeMura精度较低或失败的情况，进行进一步的迭代处理，以提高DeMura精度及成功率。

发明内容

为解决现有的技术问题，本发明提供一种用于提高显示器Mura测量精度的迭代测量方法，通过迭代的方法减少拍摄和提图的误差，提高拍摄提图的精度。

本发明中主要采用的技术方案为：

一种用于提高显示器Mura测量精度的迭代测量方法，包括以下步骤：

S1输入：将一个纯色图像作为输入灰阶图像，输入待测显示屏；

S2拍摄：拍摄待测显示屏显示的输入灰阶图像；

S3提图：对拍摄得到的输入灰阶图像提取各子像素的子像素亮度值；

S4统计方差：统计子像素亮度值的统计分布方差，n为执行S4的次序数，n为正整数；

S5输出判断：若满足预设的输出条件，则通过校验，输出当前的输入灰阶图像；若不满足预设的输出条件，则执行S6计算补图；

S6计算补图：对子像素亮度值进行计算，获得各子像素的补图灰阶值；

S7迭代：将当前的补图灰阶值作为新的输入灰阶图像，输入待测显示屏，回到S2进行迭代；

S5中输出的图像即为本方法测量得到的校准数据。

进一步地，所述预设的输出条件具体为：

在第一次计算补图前，输出条件为：，其中，k为预设的常数，L₁为初始图像中各子像素的子像素亮度值，为L₁的平均值；

在第一次计算补图后，输出条件为：/＞0.95。