[发明专利]DRAM测试方法、电子设备和存储介质

权利要求书

1.一种DRAM测试方法，其特征在于，包括以下步骤：

获取DRAM的时序参数，所述DRAM具有两个RANK，每个RANK具有对应的片选引脚和时钟使能引脚；

根据所述时序参数，对所述DRAM进行初始化；

测试所述DRAM的第一个RANK；

待测试完成后，DRAM控制器进入自刷新模式；

同步第二个RANK的使能时钟，激活第二个RANK的初始校验参数，并将片选时钟由第一个RANK切换至第二个RANK，以对第二个RANK进行测试；

待第二个RANK测试完成后，所述DRAM控制器退出自刷新模式。

2.根据权利要求1所述的DRAM测试方法，其特征在于，所述根据所述时序参数，对所述DRAM进行初始化，具体包括：

根据所述时序参数，配置测试平台的外部存储器接口的寄存器，以对所述DRAM进行初始化。

3.根据权利要求1所述的DRAM测试方法，其特征在于，所述DRAM控制器进入自刷新模式，具体包括：

配置所述DRAM控制器的DRAM寄存器，使所述DRAM控制器进入自刷新模式，以拉低第二个RANK的时钟使能引脚。

4.根据权利要求1所述的DRAM测试方法，其特征在于，所述同步第二个RANK的使能时钟，具体包括：

配置所述DRAM控制器的CKE寄存器，以同步第二个RANK的使能时钟。

5.根据权利要求1所述的DRAM测试方法，其特征在于，所述激活第二个RANK的初始校验参数，具体包括：

配置所述DRAM控制器的TXrank寄存器，以激活第二个RANK的初始校验参数。

6.根据权利要求1所述的DRAM测试方法，其特征在于，所述将片选时钟由第一个RANK切换至第二个RANK，具体包括：

配置测试平台的CS SWAP寄存器，以将片选时钟由第一个RANK切换至第二个RANK。

7.一种电子设备，包括存储器和处理器，所述存储器存储有计算机程序，其特征在于，所述处理器执行所述计算机程序时实现权利要求1至6任一项所述的DRAM测试方法。

8.一种计算机可读存储介质，所述存储介质存储有程序，其特征在于，所述程序被处理器执行时实现权利要求1至6任一项所述的DRAM测试方法。