[发明专利]用于固定式辐射剂量率仪原位校准的方法、装置及系统

说明书

本发明提供了一种用于固定式辐射剂量率仪原位校准的方法，包括：在参考辐射场中，对标准设备和拟建数据库型号下的第一待校设备至第n待校设备进行校准，并获取第一放射源产生的第一非扩展齐向场的响应信号，随后建立关于型号‑相对位置关系‑统计数据的数据库，在原位校准时，通过与第一放射源相同型号的第二放射源产生第二非扩展齐向场，并查询当前待校准设备的型号后，根据该型号对应的数据库中的值，得到当前待校准设备的目标原位校准因子。

技术领域

本发明涉及辐射测量技术领域，尤其涉及一种用于固定式辐射剂量率仪 原位校准的方法、装置及系统。

背景技术

环境辐射是指天然γ辐射、沉降物γ辐射、人工γ辐射、宇宙射线等造 成的辐射，环境辐射剂量(率)是环境辐射水平的一个重要表征物理量，对 环境保护和核活动安全防护具有重要的参考价值。

目前用于测量环境辐射剂量(率)的装置主要是由固定式的环境辐射监 测站，该站点的固定式辐射剂量率仪的检定校准由两种方式：一种方式是送 到实验室进行校准，优点是校准准确度高，但是使用条件受限，必须在实验 室条件下进行；另一种方式是进行现场校准，优点是不影响连续监测，但是 需使用高活度放射源建立参考辐射条件，在执行过程中存在较大难度。

发明内容

本发明的目的是针对现有技术的缺陷，提供一种用于固定式辐射剂量率 仪原位校准的方法、装置及系统，以解决现有技术中的两种校准方法所存在 的使用条件受限和执行难度大的问题。

第一方面，本发明提供了一种用于固定式辐射剂量率仪原位校准的方法， 所述方法包括：

在参考辐射场中，对标准设备和拟建数据库型号下的第一待校设备至第n 待校设备进行校准，获得所述标准设备的第一校准因子、所述第一待校设备 的第一个第二校准因子直至所述第n待校设备的第n个第二校准因子；

在实验室本底条件下，获得所述标准设备的第一本底响应信号、所述第 一待校设备的第一个第二本底响应信号直至所述第n待校设备的第n个第二 本底响应信号；

使用第一放射源产生第一非扩展齐向场，固定所述第一放射源、所述标 准设备和所述第一待校设备为第一相对位置关系，获得在所述第一相对位置 关系下，所述标准设备对于所述第一非扩展齐向场的第一响应信号和所述第 一待校设备对于所述第一非扩展齐向场的第二响应信号；

根据所述第一校准因子、第一个第二校准因子、所述第一本底响应信号、 所述第二本底响应信号、所述第一响应信号和所述第二响应信号，计算所述 标准设备和所述第一待校设备在所述第一相对位置关系下的第一个第一相对 响应结果，直至计算得到所述标准设备和所述第一待校准设备在第m相对位 置关系下的第m个第一相对响应结果；

计算所述标准设备和所述第n待校设备在所述第一相对位置关系下的第 一个第n相对响应结果，直至计算得到所述标准设备和所述第n待校设备在 第m相对位置关系下的第m个第n相对响应结果；根据所述第一个第一相对 响应结果至所述第一个第n相对响应结果，得到所述拟建数据库型号在第一 相对位置关系下的第一统计数据,直至根据所述第一个第n相对响应结果至第 m个第n相对响应结果，得到所述拟建数据库型号在第m相对位置关系下的第 m统计数据；

在原位校准条件下，获得标准设备的第三本底响应信号和当前待校设备 的第四本底响应信号；所述当前待校设备的型号存在于所述拟建数据库型号 中；

使用第二放射源产生第二非扩展齐向场，固定所述第一放射源、所述标 准设备和所述当前待校设备为第一相对位置关系，获得在所述第一相对位置 关系下，所述标准设备对于所述第二扩展齐向场的第三响应信号和所述当前 待校设备对于所述第二扩展齐向场的第四响应信号；其中，所述第二放射源 和所述第一放射源为同一类型的放射源；