[发明专利]一种基于NandFlash的非均匀校正系数存储方法及其系统在审

专利信息
申请号: 202210053413.0 申请日: 2022-01-18
公开(公告)号: CN114385087A 公开(公告)日: 2022-04-22
发明(设计)人: 王征;何云丰;王栋 申请(专利权)人: 中国科学院长春光学精密机械与物理研究所
主分类号: G06F3/06 分类号: G06F3/06
代理公司: 深圳市科进知识产权代理事务所(普通合伙) 44316 代理人: 孟洁
地址: 130033 吉林省长春*** 国省代码: 吉林;22
权利要求书: 查看更多 说明书: 查看更多
摘要:
搜索关键词: 一种 基于 nandflash 均匀 校正 系数 存储 方法 及其 系统
【权利要求书】:

1.一种基于NandFlash的非均匀校正系数存储方法,其特征在于,包括如下步骤:

步骤S1、在地面将校正系数存入NandFlash存储器中;

步骤S2、在FPGA芯片内部使用RAM存储器设置一个坏块管理表,该坏块管理表对应一组NandFlash的存储空间从而建立块的逻辑地址与物理地址的映射关系;

步骤S3、相机在轨上电后,读取NandFlash首地址的数据来替换坏块管理表;

步骤S4、将NandFlash中的校正系数导出至DDR3存储器中,对拍摄的图像进行非均匀性校正。

2.根据权利要求1所述的一种基于NandFlash的非均匀校正系数存储方法,其特征在于,在步骤S1内,在地面将面阵CMOS非均匀校正系数经过辐射定标后存入NandFlash存储器中。

3.根据权利要求2所述的一种基于NandFlash的非均匀校正系数存储方法,其特征在于,在步骤S1内,将NandFlash存储器分为8个基片,每个基片独立存储一组面阵CMOS非均匀校正系数。

4.根据权利要求3所述的一种基于NandFlash的非均匀校正系数存储方法,其特征在于,在步骤S2内,将坏块管理表存储在NandFlash的首个Block中。

5.根据权利要求4所述的一种基于NandFlash的非均匀校正系数存储方法,其特征在于,在步骤S3内,FPGA芯片读取NandFlash首个Block的数据。

6.根据权利要求5所述的一种基于NandFlash的非均匀校正系数存储方法,其特征在于,在步骤S4内,FPGA芯片将从NandFlash中读取的校正系数写入DDR3芯片中。

7.根据权利要求6所述的一种基于NandFlash的非均匀校正系数存储方法,其特征在于,在步骤S4内,对面阵图像数据进行整合处理,将所需的非均匀校正系数从DDR3芯片中读出,采用并行流水的方式,将图像数据进行非均匀校正处理。

8.一种基于NandFlash的非均匀校正系数存储系统,其特征在于,包括:

存入模块,用于在地面将校正系数存入NandFlash存储器中;

坏块管理模块,用于对应一组NandFlash的存储空间建立块的逻辑地址与物理地址的映射关系;

替换模块,用于读取NandFlash首地址的数据来替换坏块管理表;

校正模块,用于将NandFlash中的校正系数导出至DDR3存储器中,对拍摄的图像进行非均匀性校正。

下载完整专利技术内容需要扣除积分,VIP会员可以免费下载。

该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息,商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于中国科学院长春光学精密机械与物理研究所,未经中国科学院长春光学精密机械与物理研究所许可,擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作,请联系【客服

本文链接:http://www.vipzhuanli.com/pat/books/202210053413.0/1.html,转载请声明来源钻瓜专利网。

×

专利文献下载

说明:

1、专利原文基于中国国家知识产权局专利说明书;

2、支持发明专利 、实用新型专利、外观设计专利(升级中);

3、专利数据每周两次同步更新,支持Adobe PDF格式;

4、内容包括专利技术的结构示意图流程工艺图技术构造图

5、已全新升级为极速版,下载速度显著提升!欢迎使用!

请您登陆后,进行下载,点击【登陆】 【注册】

关于我们 寻求报道 投稿须知 广告合作 版权声明 网站地图 友情链接 企业标识 联系我们

钻瓜专利网在线咨询

周一至周五 9:00-18:00

咨询在线客服咨询在线客服
tel code back_top