[发明专利]一种基于NandFlash的非均匀校正系数存储方法及其系统在审
申请号: | 202210053413.0 | 申请日: | 2022-01-18 |
公开(公告)号: | CN114385087A | 公开(公告)日: | 2022-04-22 |
发明(设计)人: | 王征;何云丰;王栋 | 申请(专利权)人: | 中国科学院长春光学精密机械与物理研究所 |
主分类号: | G06F3/06 | 分类号: | G06F3/06 |
代理公司: | 深圳市科进知识产权代理事务所(普通合伙) 44316 | 代理人: | 孟洁 |
地址: | 130033 吉林省长春*** | 国省代码: | 吉林;22 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 一种 基于 nandflash 均匀 校正 系数 存储 方法 及其 系统 | ||
1.一种基于NandFlash的非均匀校正系数存储方法,其特征在于,包括如下步骤:
步骤S1、在地面将校正系数存入NandFlash存储器中;
步骤S2、在FPGA芯片内部使用RAM存储器设置一个坏块管理表,该坏块管理表对应一组NandFlash的存储空间从而建立块的逻辑地址与物理地址的映射关系;
步骤S3、相机在轨上电后,读取NandFlash首地址的数据来替换坏块管理表;
步骤S4、将NandFlash中的校正系数导出至DDR3存储器中,对拍摄的图像进行非均匀性校正。
2.根据权利要求1所述的一种基于NandFlash的非均匀校正系数存储方法,其特征在于,在步骤S1内,在地面将面阵CMOS非均匀校正系数经过辐射定标后存入NandFlash存储器中。
3.根据权利要求2所述的一种基于NandFlash的非均匀校正系数存储方法,其特征在于,在步骤S1内,将NandFlash存储器分为8个基片,每个基片独立存储一组面阵CMOS非均匀校正系数。
4.根据权利要求3所述的一种基于NandFlash的非均匀校正系数存储方法,其特征在于,在步骤S2内,将坏块管理表存储在NandFlash的首个Block中。
5.根据权利要求4所述的一种基于NandFlash的非均匀校正系数存储方法,其特征在于,在步骤S3内,FPGA芯片读取NandFlash首个Block的数据。
6.根据权利要求5所述的一种基于NandFlash的非均匀校正系数存储方法,其特征在于,在步骤S4内,FPGA芯片将从NandFlash中读取的校正系数写入DDR3芯片中。
7.根据权利要求6所述的一种基于NandFlash的非均匀校正系数存储方法,其特征在于,在步骤S4内,对面阵图像数据进行整合处理,将所需的非均匀校正系数从DDR3芯片中读出,采用并行流水的方式,将图像数据进行非均匀校正处理。
8.一种基于NandFlash的非均匀校正系数存储系统,其特征在于,包括:
存入模块,用于在地面将校正系数存入NandFlash存储器中;
坏块管理模块,用于对应一组NandFlash的存储空间建立块的逻辑地址与物理地址的映射关系;
替换模块,用于读取NandFlash首地址的数据来替换坏块管理表;
校正模块,用于将NandFlash中的校正系数导出至DDR3存储器中,对拍摄的图像进行非均匀性校正。
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