[发明专利]性能验证方法、装置、存储介质及计算机设备

权利要求书

1.一种性能验证方法，其特征在于，所述方法包括：

根据待测电路设计确定所述待测电路设计对应的测试场景；

根据所述测试场景确定所述测试场景对应的测试用例；

根据所述测试场景和所述测试用例，为所述待测电路设计搭建性能测试模型，并将所述测试用例输入所述性能测试模型，并执行性能验证。

2.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述待测电路设计为IP级电路设计。

3.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述性能测试模型中包括待测电路设计、总线接口、主设备以及从设备，所述总线接口根据配置可与所述待测电路设计、所述主设备或所述从设备分别连接。

4.根据权利要求3所述的方法，其特征在于，所述根据待测电路设计确定所述待测电路设计对应的测试场景，包括：

根据所述待测电路设计确定所述待测电路设计为主设备的应用场景；

根据所述测试场景，为所述待测电路设计搭建性能测试模型，包括：

将所述性能测试模型配置为所述待测电路设计连接所述总线接口，所述总线接口连接所述从设备。

5.根据权利要求3所述的方法，其特征在于，所述根据待测电路设计确定所述待测电路设计对应的测试场景，包括：

根据所述待测电路设计确定所述待测电路设计为从设备的应用场景；

根据所述测试场景，为所述待测电路设计搭建性能测试模型，包括：

将所述性能测试模型配置为所述待测电路设计连接所述总线接口，所述总线接口连接所述主设备。

6.根据权利要求3所述的方法，其特征在于，所述总线接口为AXI总线接口。

7.根据权利要求6所述的方法，其特征在于，所述执行性能验证的步骤，包括：

为所述AXI总线接口建立总线五通道数据传输延迟分布模型，并基于所述总线五通道数据传输延迟分布模型执行所述测试用例；

通过AXI monitor监视并获取各个总线接口通道数据处理的性能指标；

将获取的各个总线接口通道的数据处理的性能指标与预设指标进行对比，得到仿真结果。

8.根据权利要求7所述的方法，其特征在于，所述方法包括：通过可视化数据分析工具将获取的性能指标与预设指标对比，并提供可视化分析结果。

9.一种性能验证装置，其特征在于，所述装置包括：

测试场景确定单元，用于根据待测电路设计确定所述待测电路设计对应的测试场景；

测试用例确定单元，用于根据所述测试场景确定所述测试场景对应的测试用例；

性能验证执行单元，用于根据所述测试场景和所述测试用例，为所述待测电路设计搭建性能测试模型，并将所述测试用例输入所述性能测试模型，并执行性能验证。

10.根据权利要求9所述的装置，其特征在于，所述待测电路设计为IP级电路设计。

11.根据权利要求9所述的装置，其特征在于，所述性能测试模型中包括待测电路设计、总线接口、主设备以及从设备，所述总线接口根据配置可与所述待测电路设计、所述主设备或所述从设备分别连接。

12.根据权利要求11所述的装置，其特征在于，所述测试场景确定单元，用于根据所述待测电路设计确定所述待测电路设计为主设备的应用场景；

所述性能验证执行单元，用于将所述性能测试模型配置为所述待测电路设计连接所述总线接口，所述总线接口连接所述从设备。

13.根据权利要求11所述的装置，其特征在于，所述测试场景确定单元，用于根据所述待测电路设计确定所述待测电路设计为从设备的应用场景；

所述性能验证执行单元，用于将所述性能测试模型配置为所述待测电路设计连接所述总线接口，所述总线接口连接所述主设备。