[发明专利]一种超声波水表关键数据多重安全校验方法

权利要求书

1.一种超声波水表关键数据多重安全校验方法，其特征是，包括如下步骤：

步骤1：将保证超声波水表正常计量功能的关键数据，保存在片内Flash Memory、片内Information Memory以及外部EEPROM的不同介质中；所述关键数据包括系统参数以及计量数据；

步骤2：上电加载系统参数，读取正确的所述系统参数；

步骤3：上电加载计量数据，读取所述计量数据；

步骤4：仪表运行中定时保存所述计量数据；

步骤5：程序在受到异常干扰的情况时，如程序异常复位，读取内存中计量数据并根据其校验和判断是否正确，若不正确从片内Information Memory或外部EEPROM读取计量数据，重新加载系统参数。

2.根据权利要求1所述超声波水表关键数据多重安全校验方法，其特征在于，所述步骤1中所述片内Flash Memory保存系统参数，所述片内Information Memory保存计量数据，所述外部EEPROM保存计量数据和系统参数；所述系统参数包括表号、口径、流量修正参数、程序版本、流量数据版本、温度修正、零点修正、始动流量；所述计量数据包括正向累计流量、反向累计流量、PCB上电时长、工作时长、故障时长、上电次数、复位次数、当前时间。

3.根据权利要求1所述超声波水表关键数据多重安全校验方法，其特征在于，所述步骤2中读取正确的系统参数的步骤为：

步骤(1)：读取片内Flash Memory保存的系统参数计算校验和，查验其校验和是否正确，如果正确，读取数据到内存中系统参数数据结构；如果不正确，进行步骤(2)；

步骤(2)：读取外部EEPROM保存的系统参数计算校验和，查验其校验和是否正确，如果正确，读取数据到内存中系统参数数据结构；如果不正确，进行步骤(3)；

步骤(3)：从片内Flash Memory读取系统参数的初始值到内存中系统参数数据结构。

4.根据权利要求1所述超声波水表关键数据多重安全校验方法，其特征在于，所述步骤3中读取适当的计量数据的步骤为：

步骤1)：读取片内Information Memory保存的计量数据并计算校验和，判断数据是否正确有效，如果正确，读取片内Information Memory保存计量数据到内存中计量数据数据结构；如果不正确，进行步骤2)；

步骤2)：读取外部EEPROM保存的计量数据并计算校验和，判断数据是否正确有效，如果正确，读取外部EEPROM保存计量数据到内存中计量数据数据结构；如果不正确，进行步骤3)；

步骤3)：清空内存中计量数据数据结构。

5.根据权利要求1所述超声波水表关键数据多重安全校验方法，其特征在于，所述步骤4中仪表定时保存计量数据的具体步骤：

步骤A：计算内存中计量数据的校验和，计量数据及校验和写入片内InformationMemory，读片内Information Memory写入的数据并计算校验和，判断校验和是否正确，如果正确，再把计量数据及校验和写入外部EEPROM；如果不正确，步骤B；

步骤B：擦空片内Information Memory，重新计算内存中计量数据的校验和，再写入片内Information Memory并判断；

步骤C：重复三次操作步骤A和步骤B。

6.根据权利要求5所述超声波水表关键数据多重安全校验方法，其特征在于，所述步骤4中仪表保存计量数据前对电池电压检测，芯片供电正常进行读写操作，否则不保存数据。

7.根据权利要求6所述超声波水表关键数据多重安全校验方法，其特征在于，所述对电池电压检测具体步骤为：保存数据前使用电源电压监控器检测电池电压大于2.8V，确保片内Flash Memory、外部EEPROM在读写操作时有足够的供电；设置SVSCTL＝0x80，在没有使用的外部EEPROM空间读写并确认数据是否正确，判断数据是否正确且读SVSCTL的SVSFG位是否置位，如果SVSFG置位或数据不正确不保存数据，手动清空SVSCTL寄存器。