[发明专利]一种超声波水表关键数据多重安全校验方法

说明书

本发明涉及一种超声波水表关键数据多重安全校验方法，其解决了现有超声波水表关键数据保存在单一介质，数据易丢失、损坏的技术问题，其包括如下步骤：将保证超声波水表正常计量功能的关键数据，保存在不同介质中片内Flash Memory、片内Information Memory以及外部EEPROM；所述关键数据包括系统参数以及计量数据；上电加载系统参数，读取正确的所述系统参数；上电加载计量数据，读取所述计量数据；仪表运行中定时保存所述计量数据；程序在受到异常干扰的情况时，程序异常复位，保存当前计量数据，重新加载系统参数。本发明可广泛应用于超声波水表数据保存。

技术领域

本发明涉及仪表控制技术领域，特别是涉及一种超声波水表关键数据多重安全校验方法。

背景技术

超声波水表关键数据分为两类：一是系统参数，包括表号、口径、流量修正参数等数据；二是计量数据，包括正向累计流量、反向累计流量、PCB上电时间、工作时间等数据。目前，用于超声波水表关键数据保存在单一介质内，数据受到干扰、损坏，数据无法恢复使用。

发明内容

本发明为了解决现有超声波水表关键数据保存在单一介质，数据易丢失、损坏的技术问题，提供一种多介质保存数据的超声波水表关键数据多重安全校验方法。

本发明提供一种超声波水表关键数据多重安全校验方法，包括如下步骤：

步骤1：将保证超声波水表正常计量功能的关键数据，保存在片内 Flash Memory、片内Information Memory以及外部EEPROM的不同介质中；关键数据包括系统参数以及计量数据；

步骤2：上电加载系统参数，读取正确的系统参数；

步骤3：上电加载计量数据，读取计量数据；

步骤4：仪表运行中定时保存计量数据；

步骤5：程序在受到异常干扰的情况时，如程序异常复位，读取内存中计量数据并根据其校验和判断是否正确，若不正确从片内Information Memory或外部EEPROM读取计量数据，重新加载系统参数。

优选地，步骤1中片内Flash Memory保存系统参数，片内Information Memory保存计量数据，外部EEPROM保存计量数据和系统参数；系统参数包括表号、口径、流量修正参数、程序版本、流量数据版本、温度修正、零点修正、始动流量；计量数据包括正向累计流量、反向累计流量、PCB 上电时长、工作时长、故障时长、上电次数、复位次数、当前时间。

优选地，步骤2中读取正确的系统参数的步骤为：

步骤(1)：读取片内Flash Memory保存的系统参数计算校验和，查验其校验和是否正确，如果正确，读取数据到内存中系统参数数据结构；如果不正确，进行步骤(2)；

步骤(2)：读取外部EEPROM保存的系统参数计算校验和，查验其校验和是否正确，如果正确，读取数据到内存中系统参数数据结构；如果不正确，进行步骤(3)；

步骤(3)：从片内Flash Memory读取系统参数的初始值到内存中系统参数数据结构。

优选地，步骤3中读取适当的计量数据的步骤为：

步骤1)：读取片内Information Memory保存的计量数据并计算校验和，判断数据是否正确有效，如果正确，读取片内Information Memory 保存计量数据到内存中计量数据数据结构；如果不正确，进行步骤2)；

步骤2)：读取外部EEPROM保存的计量数据并计算校验和，判断数据是否正确有效，如果正确，读取外部EEPROM保存计量数据到内存中计量数据数据结构；如果不正确，进行步骤3)；

步骤3)：清空内存中计量数据数据结构。