[发明专利]多存储卡的测试方法、装置、计算机设备及存储介质在审
申请号: | 202210068159.1 | 申请日: | 2022-01-20 |
公开(公告)号: | CN114550809A | 公开(公告)日: | 2022-05-27 |
发明(设计)人: | 赖振楠;王嗣钧 | 申请(专利权)人: | 深圳宏芯宇电子股份有限公司 |
主分类号: | G11C29/56 | 分类号: | G11C29/56 |
代理公司: | 深圳市中科云策知识产权代理有限公司 44862 | 代理人: | 温艳华;何晓 |
地址: | 518000 广东省深圳市福田区梅林街道梅都社区*** | 国省代码: | 广东;44 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 存储 测试 方法 装置 计算机 设备 介质 | ||
1.一种多存储卡的测试方法,其特征在于,包括下述步骤:
获取将数据和多存储卡的编号写入多存储卡的写入命令,所述写入命令包括所述数据和所述编号;
解析所述写入命令,获得所述数据和所述编号,将所述数据按照所述编号写入多存储卡中;
从每两个不同编号的多存储卡中读取所述数据,将读取到的数据存入比对电路中进行异或运算,根据异或运算的结果来判断所述两个不同编号的多存储卡是否正常。
2.根据权利要求1所述的多存储卡的测试方法,其特征在于,在所述获取将数据和多存储卡的编号写入多存储卡的写入命令,所述写入命令携带所述数据和所述编号的步骤之前还包括:
设置写入命令的规则。
3.根据权利要求1所述的多存储卡的测试方法,其特征在于,所述解析所述写入命令,获得所述数据和所述编号,将所述数据按照所述编号写入多存储卡中的步骤具体包括:
解析所述写入命令,获得所述数据和所述编号;
将获得的所述数据缓存至缓存区中;
将缓存区中的数据按照所述编号写入多存储卡中。
4.根据权利要求1所述的多存储卡的测试方法,其特征在于,所述从每两个不同编号的多存储卡中读取所述数据,将读取到的数据放入比对电路中进行异或运算,根据异或运算结果判断多存储卡是否正常的步骤具体包括:
按照多存储卡的编号进行两两分组;
从每两个不同编号的多存储卡中读取所述数据,将读取到的数据放入比对电路中进行异或运算;
如果异或运算结果为0,则判断这两个不同编号的多存储卡是正常的,如果异或运算结果为1,则判断这两个不同编号的多存储卡有一个卡是异常的;
对有异常的多存储卡的组别进行标识,再将有异常的多存储卡的组别中的每一个多存储卡与已经检测出的正常的多存储卡进行异或运算,直到检测出所有多存储卡的正常与异常情况。
5.根据权利要求2所述的多存储卡的测试方法,其特征在于,所述设置写入命令的规则包括:
设置写入命令的第一个字节代表多存储卡的编号。
6.根据权利要求1至5任意一项所述的多存储卡的测试方法,其特征在于,在所述从每两个不同编号的多存储卡中读取所述数据,将读取到的数据放入比对电路中进行异或运算,根据异或运算结果判断多存储卡是否正常的步骤之后还包括:
显示有异常的多存储卡编号。
7.一种多存储卡的测试装置,其特征在于,包括:
获取模块,用于获取将数据和多存储卡的编号写入多存储卡的写入命令,所述写入命令包括所述数据和所述编号;
写入模块,用于解析所述写入命令,获得所述数据和所述编号,将所述数据按照所述编号写入多存储卡中;
判别模块,用于从每两个不同编号的多存储卡中读取所述数据,将读取到的数据存入比对电路中进行异或运算,根据异或运算的结果来判断所述两个不同编号的多存储卡是否正常。
8.根据权利要求7所述的多存储卡的测试装置,其特征在于,所述写入模块包括:
解析模块,用于解析所述写入命令,获得所述数据和所述编号;
缓存模块,用于将获得的所述数据缓存至缓存区中;
输出模块,用于将缓存区中的数据按照所述编号写入多存储卡中。
9.一种计算机设备,包括存储器和处理器,所述存储器中存储有计算机可读指令,所述处理器执行所述计算机可读指令时实现如权利要求1至6中任一项所述的多存储卡的测试方法的步骤。
10.一种计算机可读存储介质,其特征在于,所述计算机可读存储介质上存储有计算机可读指令,所述计算机可读指令被处理器执行时实现如权利要求1至6中任一项所述的多存储卡的测试方法的步骤。
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