[发明专利]多存储卡的测试方法、装置、计算机设备及存储介质

说明书

本申请属于存储技术领域，涉及一种多存储卡的测试方法、装置、计算机设备及存储介质，所述方法包括步骤：获取将数据和多存储卡的编号写入多存储卡的写入命令，所述写入命令携带所述数据和所述编号；解析所述写入命令，获得所述数据和所述编号，将所述数据按照所述编号写入多存储卡中；从每两个不同编号的多存储卡中读取所述数据，将读取到的数据放入比对电路中进行异或运算，根据异或运算结果判断多存储卡是否正常。采用本申请，通过对多存储卡进行编号，将数据同时写入多个多存储卡，毋须依赖人力，能自动化执行存储卡的测试，节省成本且能够提升测试效率，测试可靠且易于实现，可普遍适用于存储卡的测试中。

技术领域

本申请涉及存储技术领域，尤其涉及多存储卡的测试方法、装置、计算机设备及存储介质。

背景技术

随着信息处理技术的发展，对存储装置的需求显著增加。小型的存储装置，如存储卡，由于携带方便、高数据储存量及易于存取的优点而广为使用。基于存储卡的需求增加，于存储卡量产前，存储卡测试流程的重要性也相对提升，并进一步确保存储卡的效能及兼容性。因此，对系统制造商及设计者而言，低成本及高效能的存储卡测试成为一个重要的课题。

传统对存储卡测试时，需测试人员手动及逐步地处理测试，用以确保存储卡的效能。举例来说，需通过测试人员手动地插入或拔除每一张存储卡来进行测试。在测试流程中，需要各种不同的测试装置，用以确保存储卡的效能及兼容性。可见传统使用的存储卡测试流程不仅费时也成本昂贵。现有技术中对存储卡的测试原理是，将同一笔数据写入多个存储卡中，然后将数据读出来，验证读出来的数据和写入的数据的吻合度，以此来进行存储卡的操作。

此项测试操作有几个特点：一是数据量比较大，比如，待测试的存储设备为存储卡时，若是存储卡的容量为256GB，那么测试数据就是256GB；若是待测试的存储设备为硬盘时，若是硬盘的容量为2T，那么测试数据就得是2T；二是待测试数据都是从主机端(电脑)写入到多个待测试的存储设备。写入--读取--数据比对；再写入--擦除区块—读取--数据比对。通常来讲，此类测试流程会反复几次，以此来测试存储设备的存储数据的稳定性。可见测试过程非常漫长，效率低下。

发明内容

本申请实施例的目的在于提出一种多存储卡的测试方法、装置、计算机设备及存储介质，以解决现有技术中多存储卡测试过程非常漫长，效率低下的问题。

为了解决上述技术问题，本申请提供一种多存储卡的测试方法，采用了如下所述的技术方案，包括下述步骤：

获取将数据和多存储卡的编号写入多存储卡的写入命令，所述写入命令包括所述数据和所述编号；

解析所述写入命令，获得所述数据和所述编号，将所述数据按照所述编号写入多存储卡中；

从每两个不同编号的多存储卡中读取所述数据，将读取到的数据存入比对电路中进行异或运算，根据异或运算的结果来判断所述两个不同编号的多存储卡是否正常。

进一步的，在所述获取将数据和多存储卡的编号写入多存储卡的写入命令，所述写入命令携带所述数据和所述编号的步骤之前还包括：

设置写入命令的规则。

进一步的，所述解析所述写入命令，获得所述数据和所述编号，将所述数据按照所述编号写入多存储卡中的步骤具体包括：

解析所述写入命令，获得所述数据和所述编号；

将获得的所述数据缓存至缓存区中；

将缓存区中的数据按照所述编号写入多存储卡中。

进一步的，所述从每两个不同编号的多存储卡中读取所述数据，将读取到的数据放入比对电路中进行异或运算，根据异或运算结果判断多存储卡是否正常的步骤具体包括：

按照多存储卡的编号进行两两分组；