[发明专利]用于GH4698锻件的水浸超声波检测方法

权利要求书

1.用于GH4698锻件的水浸超声波检测方法，其特征在于，具体按照以下步骤实施：

步骤1、制作IN718试块TCG曲线；

步骤2、测量衰减系数；

步骤3、修正TCG曲线。

2.根据权利要求1所述的用于GH4698锻件的水浸超声波检测方法，其特征在于，所述步骤1具体为：使用水浸超声波设备进行全自动超声波检测，探头频率为5MHz，水距：152.4mm，采用成套IN718试块，在检测锻件时，根据不同检测深度的试块埋深，使每个试块平底孔波达到80％，使成套的IN718-2试块的底波波高达到80％，读取孔波和底波增益值，根据孔波增益值读数，制作IN718试块TCG曲线。

3.根据权利要求2所述的用于GH4698锻件的水浸超声波检测方法，其特征在于，所述步骤1中使用5MHz检测缺陷和底波监控，若底波损失超过6dB，使用2.5MHz重新进行底波监控并评判。

4.根据权利要求2所述的用于GH4698锻件的水浸超声波检测方法，其特征在于，所述步骤2用直探头放在锻件表面，锻件上下底平面互相平行，表面光洁的锻件或试块，使声波在上下表面往复反射，在显示屏上出现多次底波，由于介质衰减和反射损失，底波高度依次减少，计算单程衰减系数，

如公式(1)：

式(1)中，m、n分别为底波的反射次数；Bm、Bn为第m、n次底波高度；δ为反射损失，每次反射损失为0.5～1.0dB；T为锻件检测部位厚度；本申请采用试块和锻件的第1、2次底反射波进行测试。

5.根据权利要求4所述的用于GH4698锻件的水浸超声波检测方法，其特征在于，所述步骤2具体为：

步骤2.1、测量试块IN718的衰减系数；

步骤2.2、测量GH4689衰减系数。

6.根据权利要求5所述的用于GH4698锻件的水浸超声波检测方法，其特征在于，所述步骤步骤2.1具体为对成套试块进行测试，根据公式(1)计算得出每个试块衰减系数，本套试块的衰减系数求平均值，作为试块IN718的衰减系数。

7.根据权利要求6所述的用于GH4698锻件的水浸超声波检测方法，其特征在于，所述步骤2.2具体为：在一定厚度的UC检测面上，通过C扫描选取6个不同的有特色的区域，根据公式(1)计算得出6个不同区域衰减系数求平均值，作为GH4689衰减系数。

8.根据权利要求5所述的用于GH4698锻件的水浸超声波检测方法，其特征在于，所述步骤3具体为：当检测GH4698锻件时，利用步骤1中IN718试块的TCG曲线，根据步骤2中试块IN718及工件GH4698衰减系数求得差值，把锻件表面至每一个试块的平底孔之间距离的衰减量差异减掉，进行TCG曲线修正，对TCG曲线修正结果为：

TCG修正后＝TCG修正前-(α1-α2)×(H-h) (2)

其中，α1-α2为材料的衰减系数差，H为锻件厚度，h为试块FBH埋深。