[发明专利]一种用于天线OTA测试的球面采样方法

权利要求书

1.一种用于天线OTA测试的球面采样方法，其特征在于：包括如下步骤：

步骤1：根据待测天线口径，计算θ轴最小采样间隔Δθ及赤道线上φ轴的最小采样间隔Δφ；

步骤2：计算θ点数，其中round为取整函数；

步骤3：取i＝0，根据步骤2计算的θ点数，计算θ角度坐标其中offset为θ采样偏移值；

步骤4：根据θ_i取值，计算当前θ_i角度下的φ点数其中round为取整函数；

步骤5：取j＝0，根据步骤4计算的N_φi，计算φ角度坐标记录当前采样点(θ_i,φ_ij)；

步骤6：将j增加1，循环执行步骤5，直到φ_ij≥2π或jN_φi-1；

步骤7：将i增加1，循环执行步骤3～6，直到θ_i≥π或iN_θ-1，完成采样点取值。

2.根据权利要求1所述的一种用于天线OTA测试的球面采样方法，其特征在于，所述步骤1中θ轴最小采的样间隔Δθ及赤道线上φ轴的最小采样间隔Δφ计算公式为：

其中D_z表示待测天线在Z轴方向上的长度，D_y表示待测天线在Y轴方向上的长度，λ表示天线的工作波长。

3.根据权利要求1所述的一种用于天线OTA测试的球面采样方法，其特征在于，所述步骤3中offset取值范围为0.1offset0.8。

4.根据权利要求1所述的一种用于天线OTA测试的球面采样方法，其特征在于，所述步骤3中offset取值为0.5。

5.根据权利要求1所述的一种用于天线OTA测试的球面采样方法，其特征在于，所述步骤6中φ_ij≥2π时的采样点不记录。

6.根据权利要求1所述的一种用于天线OTA测试的球面采样方法，其特征在于，所述步骤7中θ_i≥π时的采样点不记录。