[发明专利]校验数据生成方法、装置、设备及存储介质有效

专利信息
申请号: 202210126966.4 申请日: 2022-02-11
公开(公告)号: CN114168087B 公开(公告)日: 2022-04-22
发明(设计)人: 吴睿振;陈静静;张永兴;王凛 申请(专利权)人: 苏州浪潮智能科技有限公司
主分类号: G06F3/06 分类号: G06F3/06;G06F11/14
代理公司: 北京集佳知识产权代理有限公司 11227 代理人: 魏亚茹
地址: 215100 江苏省苏州*** 国省代码: 江苏;32
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摘要:
搜索关键词: 校验 数据 生成 方法 装置 设备 存储 介质
【权利要求书】:

1.一种校验数据生成方法,其特征在于,包括:

获取与独立冗余磁盘阵列对应的存储状态矩阵;其中,所述存储状态矩阵包括多个磁盘向量和多个数据向量,所述磁盘向量和所述数据向量正交;

在所述磁盘向量中确定非参照向量,并在所述非参照向量构成的初始数据区进行数据向量元素均分处理,得到第一数据区和第二数据区;

对所述存储状态矩阵中的所述第一数据区和所述第二数据区进行数据交换处理,得到第一矩阵;

在所述第一矩阵的所述第一数据区和所述第二数据区中确定若干个二阶矩阵组,并对各个所述二阶矩阵组中的目标磁盘元素进行位置交换处理,得到第二矩阵;

基于所述第二矩阵进行单纠错编码生成处理,得到第一校验数据,并将所述第一校验数据存入第一校验磁盘;

基于所述第二矩阵进行双纠错编码生成处理,得到第二校验数据,并将所述第二校验数据存入第二校验磁盘。

2.根据权利要求1所述的校验数据生成方法,其特征在于,所述获取与独立冗余磁盘阵列对应的存储状态矩阵,包括:

获取所述独立冗余磁盘阵列的磁盘数量、磁盘容量和条带容量;

利用所述磁盘数量确定所述存储状态矩阵的列数,并利用所述磁盘容量和所述条带容量确定所述存储状态矩阵的行数;其中,所述行数为偶数;

基于所述列数和行数,以及各个磁盘的数据存储位置相对关系,生成所述存储状态矩阵。

3.根据权利要求2所述的校验数据生成方法,其特征在于,所述基于所述列数和行数,以及各个磁盘的数据存储位置相对关系,生成所述存储状态矩阵,包括:

获取各个磁盘中各个数据条带对应的条带标识信息;

按照所述数据条带在所述磁盘中的相对位置关系,生成所述磁盘对应的磁盘向量;

基于所述列数和行数生成初始矩阵,并利用所述磁盘向量填充所述初始矩阵,得到所述存储状态矩阵。

4.根据权利要求1所述的校验数据生成方法,其特征在于,所述在所述第一矩阵的所述第一数据区和所述第二数据区中确定若干个二阶矩阵组,包括:

判断所述第一矩阵中的所述初始数据区是否具有偶数个所述磁盘向量;

若具有偶数个所述磁盘向量,则以两个磁盘向量为粒度对所述初始数据区进行分组,得到若干个第三数据区;

若具有奇数个所述磁盘向量,则确定一个目标磁盘向量,并对非目标磁盘向量以两个磁盘向量为粒度进行分组,得到若干个第三数据区;

判断所述第一矩阵中的所述初始数据区是否具有偶数个所述数据向量;

若具有偶数个所述数据向量,则以两个数据向量为粒度对各个所述第三数据区进行分组,得到若干个所述二阶矩阵组;

若具有奇数个所述数据向量,则确定一个目标数据向量,并对非目标数据向量以两个数据向量为粒度进行分组,得到若干个所述二阶矩阵组。

5.根据权利要求1所述的校验数据生成方法,其特征在于,所述第二矩阵包括多个数据向量,所述数据向量包括当前数据向量;

所述基于所述第二矩阵进行单纠错编码生成处理,得到第一校验数据,包括:

基于所述当前数据向量,从所述独立冗余磁盘阵列中读出对应的当前数据条带,并对所述当前数据条带进行异或处理,得到所述当前数据向量对应的所述第一校验数据。

6.根据权利要求1所述的校验数据生成方法,其特征在于,所述第二矩阵包括多个数据向量,所述数据向量包括当前数据向量;

所述基于所述第二矩阵进行双纠错编码生成处理,得到第二校验数据,包括:

基于所述当前数据向量,从所述独立冗余磁盘阵列中读出对应的当前数据条带;

获取所述当前数据向量对应的向量序号,并利用所述向量序号生成各个所述当前数据条带对应的权重参数;

利用所述权重参数和所述数据条带得到加权数据,并对所述加权数据进行异或处理,得到所述当前数据向量对应的所述第二校验数据。

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