[发明专利]校验数据生成方法、装置、设备及存储介质

说明书

本申请公开了一种校验数据生成方法、装置、电子设备及计算机可读存储介质，该方法包括：获取与独立冗余磁盘阵列对应的存储状态矩阵；在磁盘向量中确定非参照向量，并在非参照向量构成的初始数据区进行数据向量元素均分处理，得到第一数据区和第二数据区；对存储状态矩阵中的第一数据区和第二数据区进行数据交换处理，得到第一矩阵；在第一矩阵的第一数据区和第二数据区中确定若干个二阶矩阵组，并对各个二阶矩阵组中的目标磁盘元素进行位置交换处理，得到第二矩阵；基于第二矩阵进行单纠错编码生成处理，得到第一校验数据；基于第二矩阵进行双纠错编码生成处理，得到第二校验数据；该方法可以提高数据恢复速度和效率。

技术领域

本申请涉及磁盘阵列技术领域，特别涉及一种校验数据生成方法、校验数据生成装置、电子设备及计算机可读存储介质。

背景技术

RAID（Redundant Arrays of Independent Disks）即具有冗余能力的磁盘阵列，磁盘阵列是通过将多个独立磁盘组合一起，从而得到一个容量巨大的磁盘组。采用RAID存储技术，可以大大提高存储容量，提高系统输入输出的请求处理能力并且通过数据的分布式存储技术，并行访问手段和信息冗余技术提高数据的可靠性。RAID 6是一种带有两个分布存储的奇偶校验码独立磁盘的结构，其能够在同时由两个磁盘发生数据错误时进行数据恢复，进一步提升了磁盘阵列的数据可靠性。然而，RAID 6在向下兼容一个仅有一个磁盘发生数据错误的场景时，数据恢复过程只需要使用其中的一种校验码，且该种校验码需要被全部使用，这使得该校验码对应的存储磁盘IO吞吐数据量极大，导致数据恢复速度较慢。

因此，如何解决相关技术存在的数据恢复速度慢的问题，是本领域技术人员需要解决的技术问题。

发明内容

有鉴于此，本申请的目的在于提供一种校验数据生成方法、校验数据生成装置、电子设备及计算机可读存储介质，提高数据恢复速度和效率。

为解决上述技术问题，本申请提供了一种校验数据生成方法，包括：

获取与独立冗余磁盘阵列对应的存储状态矩阵；其中，所述存储状态矩阵包括多个磁盘向量和多个数据向量，所述磁盘向量和所述数据向量正交；

在所述磁盘向量中确定非参照向量，并在所述非参照向量构成的初始数据区进行数据向量元素均分处理，得到第一数据区和第二数据区；

对所述存储状态矩阵中的所述第一数据区和所述第二数据区进行数据交换处理，得到第一矩阵；

在所述第一矩阵的所述第一数据区和所述第二数据区中确定若干个二阶矩阵组，并对各个所述二阶矩阵组中的目标磁盘元素进行位置交换处理，得到第二矩阵；

基于所述第二矩阵进行单纠错编码生成处理，得到第一校验数据，并将所述第一校验数据存入第一校验磁盘；

基于所述第二矩阵进行双纠错编码生成处理，得到第二校验数据，并将所述第二校验数据存入第二校验磁盘。

可选地，所述获取与独立冗余磁盘阵列对应的存储状态矩阵，包括：

获取所述独立冗余磁盘阵列的磁盘数量、磁盘容量和条带容量；

利用所述磁盘数量确定所述存储状态矩阵的列数，并利用所述磁盘容量和所述条带容量确定所述存储状态矩阵的行数；其中，所述行数为偶数；

基于所述列数和行数，以及各个磁盘的数据存储位置相对关系，生成所述存储状态矩阵。

可选地，所述基于所述列数和行数，以及各个磁盘的数据存储位置相对关系，生成所述存储状态矩阵，包括：

获取各个磁盘中各个数据条带对应的条带标识信息；

按照所述数据条带在所述磁盘中的相对位置关系，生成所述磁盘对应的磁盘向量；