[发明专利]一种电磁参数测试方法、装置、终端设备和存储介质

权利要求书

1.一种电磁参数测试方法，其特征在于，包括：

检测未装填待测物料的测试夹具两端的第一散射参数；

检测已装填所述待测物料的所述测试夹具两端的第二散射参数，其中，所述待测物料装填在所述测试夹具的盒状结构内；

根据所述第一散射参数和所述第二散射参数，计算得到所述盒状结构中未装填所述待测物料部分的第一长度；

根据所述第一散射参数、所述第二散射参数以及所述第一长度，计算得到所述待测物料的折射率和波阻抗；

根据所述折射率和所述波阻抗，计算得到所述待测物料的电磁参数。

2.如权利要求1所述的电磁参数测试方法，其特征在于，所述根据所述第一散射参数和所述第二散射参数，计算得到所述盒状结构中未装填所述待测物料部分的第一长度，包括：

根据所述第一散射参数和所述第二散射参数，计算得到所述盒状结构内部电磁波的第一传输系数；

获取所述盒状结构内部的横电磁波在空气中的传播常数；

根据所述第一传输系数、所述传播常数以及所述待测物料的第二长度，计算得到所述盒状结构中未装填所述待测物料部分的第一长度。

3.如权利要求2所述的电磁参数测试方法，其特征在于，所述根据所述第一散射参数、所述第二散射参数以及所述第一长度，计算得到所述待测物料的折射率和波阻抗，包括：

根据所述第一散射参数、所述第二散射参数、所述第一长度以及所述传播常数，计算得到所述待测物料的截面处由于阻抗不连续引入的反射系数；

根据所述第一散射参数、所述第二散射参数、所述第一长度、所述传播常数、所述第二长度以及所述反射系数，计算得到所述待测物料内部电磁波的第二传输系数；

根据所述传播常数、所述第二长度以及所述第二传输系数，计算得到所述待测物料的折射率；

根据所述反射系数计算得到所述待测物料的波阻抗。

4.如权利要求1所述的电磁参数测试方法，其特征在于，所述根据所述折射率和所述波阻抗，计算得到所述待测物料的电磁参数，包括：

计算所述折射率和所述波阻抗的乘积，并将所述乘积确定为所述待测物料的磁导率；

计算所述折射率和所述波阻抗的商，并将所述商确定为所述待测物料的介电常数。

5.如权利要求1至4任一项所述的电磁参数测试方法，其特征在于，所述测试夹具包括：上盖板、下盖板、信号线、第一射频连接器和第二射频连接器；

所述上盖板和所述下盖板电气连接，所述信号线、所述第一射频连接器的芯线和所述第二射频连接器的芯线电气连接；

所述上盖板、所述下盖板、所述信号线、所述第一射频连接器和所述第二射频连接器组装成所述盒状结构，所述盒状结构用于装填所述待测物料。

6.如权利要求5所述的电磁参数测试方法，其特征在于，所述信号线的形状为圆柱体或者长方体。

7.如权利要求5所述的电磁参数测试方法，其特征在于，所述上盖板、所述下盖板和所述信号线组成一段空气带状线，且所述空气带状线的特征阻抗为50欧姆。

8.一种电磁参数测试装置，其特征在于，包括：

第一散射参数检测模块，用于检测未装填待测物料的测试夹具两端的第一散射参数；

第二散射参数检测模块，用于检测已装填所述待测物料的所述测试夹具两端的第二散射参数，其中，所述待测物料装填在所述测试夹具的盒状结构内；

长度检测模块，用于根据所述第一散射参数和所述第二散射参数，计算得到所述盒状结构中未装填所述待测物料部分的第一长度；

折射率计算模块，用于根据所述第一散射参数、所述第二散射参数以及所述第一长度，计算得到所述待测物料的折射率和波阻抗；

电磁参数计算模块，用于根据所述折射率和所述波阻抗，计算得到所述待测物料的电磁参数。

9.一种终端设备，包括存储器、处理器以及存储在所述存储器中并可在所述处理器上运行的计算机程序，其特征在于，所述处理器执行所述计算机程序时实现如权利要求1至7中任一项所述的电磁参数测试方法。

10.一种计算机可读存储介质，所述计算机可读存储介质存储有计算机程序，其特征在于，所述计算机程序被处理器执行时实现如权利要求1至7中任一项所述的电磁参数测试方法。