[发明专利]一种电磁参数测试方法、装置、终端设备和存储介质

说明书

本申请涉及电参数提取技术领域，提出一种电磁参数测试方法、装置、终端设备和存储介质。该方法首先检测未装填待测物料的测试夹具两端的第一散射参数，以及检测已装填待测物料的该测试夹具两端的第二散射参数；然后，通过第一散射参数和第二散射参数可以计算得到该测试夹具的盒状结构中未装填待测物料部分的第一长度；接着，根据第一散射参数、第二散射参数和第一长度计算出待测物料的折射率和波阻抗；最后，根据折射率和波阻抗，计算得到待测物料的电磁参数。上述过程在实施时无需使用校准件对测试夹具进行校准，提高了用户操作的便捷性。

技术领域

本申请涉及电参数提取技术领域，尤其涉及一种电磁参数测试方法、装置、终端设备和存储介质。

背景技术

在产品的硬件设计过程中，明确所使用物料的电磁参数对于提升产品性能、规避设计风险至关重要。

物料的电磁参数主要包括介电常数和磁导率，目前，通常采用电容/电感测试法来提取物料的电磁参数。这种方法原理简单，主要利用待测物料构建出电容器/电感器，然后测试其电容量/电感量，再进行逆推得到待测物料的介电常数和磁导率。

然而，采用这种方法需要预先使用介电常数/磁导率已知的物料作为校准件，对测试用的夹具进行校准，用户操作较为繁琐。

发明内容

有鉴于此，本申请实施例提供了一种电磁参数测试方法、装置、终端设备和存储介质，在提取物料的电磁参数时，无需使用校准件对测试夹具进行校准，提高了用户操作的便捷性。

本申请实施例的第一方面提供了一种电磁参数测试方法，包括：

检测未装填待测物料的测试夹具两端的第一散射参数；

检测已装填所述待测物料的所述测试夹具两端的第二散射参数，其中，所述待测物料装填在所述测试夹具的盒状结构内；

根据所述第一散射参数和所述第二散射参数，计算得到所述盒状结构中未装填所述待测物料部分的第一长度；

根据所述第一散射参数、所述第二散射参数以及所述第一长度，计算得到所述待测物料的折射率和波阻抗；

根据所述折射率和所述波阻抗，计算得到所述待测物料的电磁参数。

本申请实施例首先检测未装填待测物料的测试夹具两端的第一散射参数，以及检测已装填待测物料的该测试夹具两端的第二散射参数；然后，通过第一散射参数和第二散射参数可以计算得到该测试夹具的盒状结构中未装填待测物料部分的第一长度；接着，根据第一散射参数、第二散射参数和第一长度计算出待测物料的折射率和波阻抗；最后，根据折射率和波阻抗，计算得到待测物料的电磁参数。上述过程在实施时无需使用校准件对测试夹具进行校准，提高了用户操作的便捷性。

在本申请实施例的一种实现方式中，所述根据所述第一散射参数和所述第二散射参数，计算得到所述盒状结构中未装填所述待测物料部分的第一长度，可以包括：

根据所述第一散射参数和所述第二散射参数，计算得到所述盒状结构内部电磁波的第一传输系数；

获取所述盒状结构内部的横电磁波在空气中的传播常数；

根据所述第一传输系数、所述传播常数以及所述待测物料的第二长度，计算得到所述盒状结构中未装填所述待测物料部分的第一长度。

进一步的，所述根据所述第一散射参数、所述第二散射参数以及所述第一长度，计算得到所述待测物料的折射率和波阻抗，可以包括：

根据所述第一散射参数、所述第二散射参数、所述第一长度以及所述传播常数，计算得到所述待测物料的截面处由于阻抗不连续引入的反射系数；

根据所述第一散射参数、所述第二散射参数、所述第一长度、所述传播常数、所述第二长度以及所述反射系数，计算得到所述待测物料内部电磁波的第二传输系数；