[发明专利]信号校准方法、装置、计算机设备及存储介质

权利要求书

1.一种信号校准方法，其特征在于，应用于MCU，所述MCU与基准电压产生电路连接，所述基准电压产生电路用于向所述MCU输入基准电压信号，包括：

接收并采集所述基准电压信号，得到第一基准电压采样值；

接收并采集所述基准电压信号和真实值为预设真实值的检测信号，得到第二基准电压采样值及第一ADC采样值；

根据所述第一基准电压采样值、所述第二基准电压采样值、所述第一ADC采样值及所述预设真实值，生成所述MCU的校准系数；

接收并采集所述基准电压信号和待测信号，得到第三基准电压采样值及第二ADC采样值；

根据所述第一基准电压采样值、所述第三基准电压采样值、所述第二ADC采样值及所述校准系数，校准所述待测信号的采样值，得到所述待测信号的真实值。

2.根据权利要求1所述的信号校准方法，其特征在于，所述根据所述第一基准电压采样值、所述第二基准电压采样值、所述第一ADC采样值及所述预设真实值，生成所述MCU的校准系数，包括：

根据所述第一基准电压采样值及所述第二基准电压采样值，得到所述检测信号的第一补偿系数；

根据所述预设真实值、所述第一ADC采样值及所述第一补偿系数，生成所述MCU的校准系数。

3.根据权利要求2所述的信号校准方法，其特征在于，所述根据所述预设真实值、所述第一ADC采样值及所述第一补偿系数，生成所述MCU的校准系数，包括：

根据所述第一补偿系数及所述第一ADC采样值，得到所述检测信号补偿后的ADC采样值；

根据所述检测信号补偿后的ADC采样值及所述预设真实值，生成所述MCU的校准系数。

4.根据权利要求1所述的信号校准方法，其特征在于，所述根据所述第一基准电压采样值、所述第三基准电压采样值、所述第二ADC采样值及所述校准系数，校准所述待测信号的采样值，得到所述待测信号的真实值，包括：

根据所述第一基准电压采样值及所述第三基准电压采样值，得到所述待测信号的第二补偿系数；

根据所述第二ADC采样值、所述第二补偿系数及所述校准系数，校准所述待测信号的采样值，得到所述待测信号的真实值。

5.根据权利要求1所述的信号校准方法，其特征在于，所述MCU还包括存储器，所述接收并采集所述基准电压信号，得到第一基准电压采样值，包括：

接收并采集所述基准电压信号，将所述基准电压信号以外的信号归零，得到第一基准电压采样值，并将所述第一基准电压采样值存储至存储器。

6.根据权利要求5所述的信号校准方法，其特征在于，所述根据所述第一基准电压采样值、所述第二基准电压采样值、所述第一ADC采样值及所述预设真实值，生成所述MCU的校准系数之后，还包括：

将所述校准系数存储至所述存储器。

7.根据权利要求1所述的信号校准方法，其特征在于，所述基准电压产生电路包括基准电压源及跟随器，所述基准电压源通过所述跟随器与所述MCU连接。

8.一种信号校准装置，其特征在于，应用于MCU，所述MCU与基准电压产生电路连接，所述基准电压产生电路用于向所述MCU输入基准电压信号，包括：

电压信号接收模块，用于接收并采集所述基准电压信号，得到第一基准电压采样值；

检测信号接收模块，用于接收并采集所述基准电压信号和真实值为预设真实值的检测信号，得到第二基准电压采样值及第一ADC采样值；

校准系数生成模块，用于根据所述第一基准电压采样值、所述第二基准电压采样值、所述第一ADC采样值及所述预设真实值，生成所述MCU的校准系数；

待测信号接收模块，用于接收并采集所述基准电压信号和待测信号，得到第三基准电压采样值及第二ADC采样值；

待测信号校准模块，用于根据所述第一基准电压采样值、所述第三基准电压采样值、所述第二ADC采样值及所述校准系数，校准所述待测信号的采样值，得到所述待测信号的真实值。