[发明专利]信号校准方法、装置、计算机设备及存储介质

说明书

本申请提供一种信号校准方法、装置、计算机设备及存储介质，信号校准方法应用于MCU，MCU与基准电压产生电路连接，基准电压产生电路用于向MCU输入基准电压信号，包括：接收并采集基准电压信号，得到第一基准电压采样值；接收并采集基准电压信号和真实值为预设真实值的检测信号，得到第二基准电压采样值及第一ADC采样值；根据第一基准电压采样值、第二基准电压采样值、第一ADC采样值及预设真实值，生成MCU的校准系数；接收并采集基准电压信号和待测信号，得到第三基准电压采样值及第二ADC采样值；根据第一基准电压采样值、第三基准电压采样值、第二ADC采样值及校准系数，校准待测信号的采样值，得到待测信号的真实值。

技术领域

本发明涉及信号采集领域，尤其涉及一种信号校准方法、装置、计算机设备及存储介质。

背景技术

ADC(Analog-to-Digital Converter，模拟/数字转换器)采样技术是一种常用的信号采集技术，用于采集声音、图像及温度等模拟信号。MCU(Microcontroller Unit，微控制单元)又被称为单片机，内部集成有ADC采样装置。

通常MCU的ADC采样装置所需要的基准电压都是由VCC(Volt Current Condenser，供电电压)电源提供。同时，VCC电源又需要为MCU的处理器、存储器及计数器等器件提供额定的工作电压。MCU运行过程中，VCC电源容易受到干扰。具体地，MCU的器件的离散性、MCU启动时VCC电源上升到稳定电压的过程、MCU的工作环境较差都会导致VCC电源发生波动。ADC采样的精确度与VCC电源的精度及稳定度有直接关系，VCC电源的波动导致VCC电源无法提供理想的基准电压，进而导致了MCU的ADC采样不精确。

发明内容

有鉴于此，本发明的目的是为了克服现有技术中的不足，提供一种信号校准方法、装置、计算机设备及存储介质，以解决MCU的ADC采样不精确的问题。

第一方面，本申请的一个实施方式提供一种信号校准方法，应用于MCU，所述MCU与基准电压产生电路连接，所述基准电压产生电路用于向所述MCU输入基准电压信号，包括：

接收并采集所述基准电压信号，得到第一基准电压采样值；

接收并采集所述基准电压信号和真实值为预设真实值的检测信号，得到第二基准电压采样值及第一ADC采样值；

根据所述第一基准电压采样值、所述第二基准电压采样值、所述第一ADC采样值及所述预设真实值，生成所述MCU的校准系数；

接收并采集所述基准电压信号和待测信号，得到第三基准电压采样值及第二ADC采样值；

根据所述第一基准电压采样值、所述第三基准电压采样值、所述第二ADC采样值及所述校准系数，校准所述待测信号的采样值，得到所述待测信号的真实值。

结合第一方面，在第一种可能的实现方式中，所述根据所述第一基准电压采样值、所述第二基准电压采样值、所述第一ADC采样值及所述预设真实值，生成所述MCU的校准系数，包括：

根据所述第一基准电压采样值及所述第二基准电压采样值，得到所述检测信号的第一补偿系数；

根据所述预设真实值、所述第一ADC采样值及所述第一补偿系数，生成所述MCU的校准系数。

结合第一方面的第一种可能的实现方式，在第二可能的方式中，所述根据所述预设真实值、所述第一ADC采样值及所述第一补偿系数，生成所述MCU的校准系数，包括：

根据所述第一补偿系数及所述第一ADC采样值，得到所述检测信号补偿后的ADC采样值；

根据所述检测信号补偿后的ADC采样值及所述预设真实值，生成所述MCU的校准系数。