[发明专利]老化时间设定方法、装置、设备及可读存储介质

权利要求书

1.一种老化时间设定方法，其特征在于，所述老化时间设定方法包括：

对待测试部件组进行老化测试，记录待测试部件组在设定时长T内各个时间段的故障个数，其中，T包含的时间段的总个数为M，每个时间段的时长为t；

基于记录的待测试部件组在设定时长T内各个时间段的故障个数计算待测试部件组在前N个时间段的故障率之和，其中，N的初始值为1；

若所述故障率之和不大于第一阈值，则以N+1作为N，执行所述基于记录的待测试部件组在设定时长T内各个时间段的故障个数计算待测试部件组在前N个时间段的故障率之和的步骤；

若所述故障率之和大于第一阈值，则判断N是否小于M；

若N小于M，则设定待测试部件组的老化时间为N*t；

若N等于M，则设定待测试部件组的老化时间为T+t。

2.如权利要求1所述老化时间设定方法，其特征在于，所述基于记录的待测试部件组在设定时长T内各个时间段的故障个数计算待测试部件组在前N个时间段的故障率之和的步骤包括：

将第i个时间段的故障个数k_i代入第一预设公式，计算得到待测试部件组在设定时长T的第i个时间段的故障率，第一预设公式如下：

其中，λ_i为待测试部件组在设定时长T的第i个时间段的故障率，i的取值范围为[1，M]；

将待测试部件组在设定时长T的第i个时间段的故障率λ_i代入第二预设公式，计算得到待测试部件组在前N个时间段的故障率之和，第二预设公式如下：

其中，ρ为待测试部件组在前N个时间段的故障率之和。

3.如权利要求1所述的老化时间设定方法，其特征在于，所述设定时长T基于上一批待测试部件组的老化时间设定，其中，第一批待测试部件组的设定时长为默认值。

4.如权利要求3所述的老化时间设定方法，其特征在于，所述老化时间设定方法，还包括：

获取各个待测试部件组的老化时间，其中，各个待测试部件组属于同一目标类型；

根据获取的各个待测试部件组的老化时间确定目标类型的老化时间。

5.如权利要求4所述的老化时间设定方法，其特征在于，所述根据获取的各个待测试部件组的老化时间确定目标类型的老化时间的步骤，包括：

根据获取的各个待测试部件组的老化时间确定各个待测试部件组的老化时间的众数，以所述众数作为目标类型的老化时间。

6.如权利要求4所述的老化时间设定方法，其特征在于，所述根据获取的各个待测试部件组的老化时间确定目标类型的老化时间的步骤，包括：

根据获取的各个待测试部件组的老化时间计算各个待测试部件组的老化时间的平均数，以所述平均数作为目标类型的老化时间。

7.一种老化时间设定装置，其特征在于，所述老化时间设定装置包括：

记录模块，用于对待测试部件组进行老化测试，记录待测试部件组在设定时长T内各个时间段的故障个数，其中，T包含的时间段的总个数为M，每个时间段的时长为t；

计算模块，用于基于记录的待测试部件组在设定时长T内各个时间段的故障个数计算待测试部件组在前N个时间段的故障率之和，其中，N的初始值为1；

执行模块，用于若所述故障率之和不大于第一阈值，则以N+1作为N，执行所述基于记录的待测试部件组在设定时长T内各个时间段的故障个数计算待测试部件组在前N个时间段的故障率之和的步骤；

判断模块，用于若所述故障率之和大于第一阈值，则判断N是否小于M；

第一设定模块，用于若N小于M，则设定待测试部件组的老化时间为N*t；

第二设定模块，用于若N等于M，则设定待测试部件组的老化时间为T+t。