[发明专利]老化时间设定方法、装置、设备及可读存储介质

说明书

本发明提供一种老化时间设定方法、装置、设备及可读存储介质。该方法包括：对待测试部件组进行老化测试，并记录在设定时长T内各个时间段的故障个数，其中T包含的时间段的总个数为M，每个时间段的时长为t；计算待测试部件组在前N个时间段的故障率之和，其中N的初始值为1；若故障率之和不大于第一阈值，则以N+1作为N，再重新计算前N个时间段的故障率之和；若故障率之和大于第一阈值，则判断N是否小于M；若N小于M，则设定待测试部件组的老化时间为N*t；若N等于M，则设定待测试部件组的老化时间为T+t。通过本发明，解决了现有方案中对待测试部件进行老化时间的设定的方法不够灵活，无法对老化时间进行动态调节的问题。

技术领域

本发明涉及服务器自动化测试领域，尤其涉及一种老化时间设定方法、装置、设备及可读存储介质。

背景技术

服务器产品部件在生产过程中，会通过老化测试来剔除早期失效的产品部件，而老化测试中老化时间的设定会直接影响到服务器产品部件的质量，过短的老化时间会带来较高的产品部件出厂不良率；而过长的老化时间则会降低服务器的生产效率，导致生产过程中的生产成本增加。因此选择合适的老化时间就显得特别重要。

现有方案的老化时间选择基本大多都是人工通过经验值对待测试部件进行老化时间的设定，这种基于人工经验值进行老化时间的设定的方法不够灵活，无法对老化时间进行动态调节。

发明内容

本发明的主要目的在于提供一种老化时间设定方法、装置、设备及可读存储介质，旨在解决现有方案中对待测试部件进行老化时间的设定的技术方案不够灵活，无法对老化时间进行动态调节的问题。

第一方面，本发明提供一种老化时间设定方法，所述老化时间设定方法包括：

对待测试部件组进行老化测试，记录待测试部件组在设定时长T内各个时间段的故障个数，其中，T包含的时间段的总个数为M，每个时间段的时长为t；

基于记录的待测试部件组在设定时长T内各个时间段的故障个数计算待测试部件组在前N个时间段的故障率之和，其中，N的初始值为1；

若所述故障率之和不大于第一阈值，则以N+1作为N，执行所述基于记录的待测试部件组在设定时长T内各个时间段的故障个数计算待测试部件组在前N个时间段的故障率之和的步骤；

若所述故障率之和大于第一阈值，则判断N是否小于M；

若N小于M，则设定待测试部件组的老化时间为N*t；

若N等于M，则设定待测试部件组的老化时间为T+t。

可选的，所述基于记录的待测试部件组在设定时长T内各个时间段的故障个数计算待测试部件组在前N个时间段的故障率之和的步骤包括：

将第i个时间段的故障个数k_i代入第一预设公式，计算得到待测试部件组在设定时长T的第i个时间段的故障率，第一预设公式如下：

其中，λ_i为待测试部件组在设定时长T的第i个时间段的故障率，i的取值范围为[1，M]；

将待测试部件组在设定时长T的第i个时间段的故障率λ_i代入第二预设公式，计算得到待测试部件组在前N个时间段的故障率之和，第二预设公式如下：

其中，ρ为待测试部件组在前N个时间段的故障率之和。

可选的，所述设定时长T基于上一批待测试部件组的老化时间设定，其中，第一批待测试部件组的设定时长为默认值。

可选的，所述老化时间设定方法，还包括：

获取各个待测试部件组的老化时间，其中，各个待测试部件组属于同一目标类型；