[发明专利]检测方法及装置、检测设备和存储介质

权利要求书

1.一种检测方法，其特征在于，包括：

在待测件的待测部位于检测设备的视场范围内的情况下，通过所述检测设备进行第一检测，以获取来自所述待测部的第一辐射，并根据所述第一辐射获取所述待测部的第一检测信息，所述第一检测信息包括所述待测部在垂直于所述检测设备辐射的中心轴的平面内的位置信息以及第一辐射值，所述第一辐射值与第一辐射的强度正相关；

根据所述第一检测信息，确定所述待测部与目标位置在垂直于所述检测设备辐射的中心轴的平面内的位置偏差，所述目标位置为与所述检测设备的视场中心的相对位置，所述目标位置为所述检测设备的性能指标达到预设条件的位置，所述目标位置的性能指标随着所述目标位置在所述检测设备的视场范围内的相对位置变化而变化；

根据所述位置偏差使所述待测件与所述检测设备相对移动，以使所述待测部与所述目标位置重合；

在所述待测部与所述目标位置重合之后，通过所述检测设备对所述待测部进行第二检测，获取所述待测部的待测信息。

2.根据权利要求1所述的检测方法，其特征在于，所述第一辐射值包括：图像灰度或辐射强度；所述待测部包括标识图形，所述标识图形具有特征点，所述根据所述第一检测信息，确定所述待测部与目标位置在垂直于所述检测设备辐射的中心轴的平面内的位置偏差，包括：

根据所述第一检测信息识别所述标识图形，并确定所述特征点的当前的位置信息，得到特征位置，所述特征位置位于所述标识图形的中心或顶点；及

根据所述特征位置和所述目标位置的偏差，确定所述位置偏差。

3.根据权利要求1所述的检测方法，其特征在于，所述待测部的个数为多个，所述检测方法还包括：

重复所述第一检测至所述第二检测的步骤，以获取各所述待测部的待测信息；

对多个所述待测部的待测信息进行加权，获取目标待测信息。

4.根据权利要求1所述的检测方法，其特征在于，还包括：

根据用户选取的所述待测部确定多个所述待测部；或者，根据所述待测件的多个预定位置处的所述待测部确定多个所述待测部；或者，基于预设的采样优化方法确定多个所述待测部。

5.根据权利要求1所述的检测方法，其特征在于，所述目标位置为所述检测设备的性能指标达到预设条件的位置，包括：

所述目标位置为所述检测设备的视场范围的中心位置；或，所述目标位置为使所述检测设备的性能指标大于预设值的位置，所述检测设备的性能指标包括：所述检测设备的对称性参数和所述待测部的图像质量参数中至少一个。

6.根据权利要求5所述的检测方法，其特征在于，还包括：获取所述目标位置；

所述获取所述目标位置，包括：

通过所述检测设备分别对位于多个待测位置的待测部进行预检测，获取各所述待测位置处的所述待测部的评价值，所述评价值与所述检测设备的性能指标正相关或负相关，所述多个待测位置位于沿垂直于所述检测设备辐射的中心轴的平面内，且所述多个待测位置为与所述检测设备的视场中心的相对位置；

根据所述评价值获取多个所述待测位置中使所述检测设备的性能指标最大的所述待测位置作为所述目标位置。

7.根据权利要求6所述的检测方法，其特征在于，所述待测部的个数为多个，所述通过所述检测设备分别对位于多个待测位置的待测部进行预检测，获取各所述待测位置处的所述待测部的评价值，包括：

获取多个不同所述待测部的视场性能值或在不同时刻下获取所述待测部的所述视场性能值，所述视场性能值为所述检测设备的非对称性参数和图像质量参数中至少一个；

根据多个所述视场性能值获取所述评价值，所述评价值正比于所述多个视场性能值的和值、均值或标准差；

或者，所述通过所述检测设备分别对位于多个待测位置的待测部进行预检测，获取各所述待测位置处的所述待测部的评价值，包括：获取所述待测部的所述视场性能值，将所述视场性能值作为所述评价值。