[发明专利]屏幕杂质的处理方法、装置、系统和电子设备在审
申请号: | 202210167483.9 | 申请日: | 2022-02-23 |
公开(公告)号: | CN114545668A | 公开(公告)日: | 2022-05-27 |
发明(设计)人: | 陈成;袁欢 | 申请(专利权)人: | 深圳市尊绅投资有限公司 |
主分类号: | G02F1/13 | 分类号: | G02F1/13 |
代理公司: | 北京超凡宏宇专利代理事务所(特殊普通合伙) 11463 | 代理人: | 徐丽 |
地址: | 518000 广东省深圳市*** | 国省代码: | 广东;44 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 屏幕 杂质 处理 方法 装置 系统 电子设备 | ||
1.一种屏幕杂质的处理方法,其特征在于,所述方法包括:
对预先获取的初始屏幕进行切割,得到多个目标屏幕;
通过镭射激光,对所述目标屏幕的固有缺陷进行修补,得到修补屏幕;
对所述修补屏幕进行烘烤,以消除所述修补屏幕上的所述屏幕杂质。
2.根据权利要求1所述的处理方法,其特征在于,对所述修补屏幕进行烘烤,以消除所述修补屏幕上的所述屏幕杂质的步骤,包括:
所述烘烤的温度为90℃以上,所述烘烤的时间为3小时以上。
3.根据权利要求2所述的方法,其特征在于,所述烘烤的温度为90℃且所述烘烤的时间为4小时;或者,所述烘烤的温度为120℃且所述烘烤的时间为3小时;或者,所述烘烤的温度为150℃且所述烘烤的时间为3小时。
4.根据权利要求1所述的方法,其特征在于,通过镭射激光,对所述目标屏幕的固有缺陷进行修补,得到修补屏幕的步骤之前,所述方法还包括:
通过扎针驱动检测方法检验所述目标屏幕是否存在固有缺陷;
若所述目标屏幕存在固有缺陷,则执行所述通过镭射激光,对所述目标屏幕的固有缺陷进行修补,得到修补屏幕的步骤。
5.根据权利要求1所述的方法,其特征在于,对所述修补屏幕进行烘烤,以消除所述修补屏幕上的所述屏幕杂质的步骤之后,所述方法还包括:
将烘烤后的所述修补屏幕作为最终屏幕;
通过扎针驱动检测方法检测所述最终屏幕中的屏幕杂质,得到所述最终屏幕的屏幕质量;
根据所述屏幕质量,对所述最终屏幕进行分类。
6.一种屏幕杂质的处理装置,其特征在于,所述装置包括:
切割模块,用于对预先获取的初始屏幕进行切割,得到多个目标屏幕;
镭射修补模块,用于通过镭射激光,对所述目标屏幕的固有缺陷进行修补,得到修补屏幕;
烘烤模块,用于对所述修补屏幕进行烘烤,以消除所述修补屏幕上的所述屏幕杂质。
7.一种屏幕杂质的处理系统,其特征在于,所述处理系统用于执行权利要求1-5任一项所述的屏幕杂质的处理方法;所述屏幕杂质的处理系统包括:切割结构、镭射修补结构和烘烤结构;
切割结构,用于对预先获取的初始屏幕进行切割,得到多个目标屏幕;
镭射修补结构,用于通过镭射激光,对所述目标屏幕的固有缺陷进行修补,得到修补屏幕;
烘烤结构,用于对所述修补屏幕进行烘烤,以消除所述修补屏幕上的所述屏幕杂质。
8.根据权利要求7所述的处理系统,其特征在于,所述处理系统还包括:翻转结构、定位结构、承接结构、点灯结构和出货结构;
所述翻转结构,用于对屏幕进行翻转;
所述定位结构,用于对屏幕进行定位校准;
所述目标屏幕放置于所述承接结构上;
所述点灯结构,用于通过扎针驱动检测方法检验屏幕是否存在缺陷;
所述出货结构,用于对屏幕分别进行打包并出货。
9.根据权利要求8所述的处理系统,其特征在于,所述点灯结构包括第一点灯结构和第二点灯结构;
所述第一点灯结构,用于通过扎针驱动检测方法检验所述目标屏幕是否存在固有缺陷;
所述第二点灯结构,用于通过所述扎针驱动检测方法检验最终屏幕的屏幕质量。
10.一种电子设备,其特征在于,包括处理器和存储器,所述存储器存储有能够被所述处理器执行的机器可执行指令,所述处理器执行所述机器可执行指令以实现权利要求1至5任一项所述的处理方法。
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