[发明专利]屏幕杂质的处理方法、装置、系统和电子设备在审

专利信息
申请号: 202210167483.9 申请日: 2022-02-23
公开(公告)号: CN114545668A 公开(公告)日: 2022-05-27
发明(设计)人: 陈成;袁欢 申请(专利权)人: 深圳市尊绅投资有限公司
主分类号: G02F1/13 分类号: G02F1/13
代理公司: 北京超凡宏宇专利代理事务所(特殊普通合伙) 11463 代理人: 徐丽
地址: 518000 广东省深圳市*** 国省代码: 广东;44
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摘要:
搜索关键词: 屏幕 杂质 处理 方法 装置 系统 电子设备
【权利要求书】:

1.一种屏幕杂质的处理方法,其特征在于,所述方法包括:

对预先获取的初始屏幕进行切割,得到多个目标屏幕;

通过镭射激光,对所述目标屏幕的固有缺陷进行修补,得到修补屏幕;

对所述修补屏幕进行烘烤,以消除所述修补屏幕上的所述屏幕杂质。

2.根据权利要求1所述的处理方法,其特征在于,对所述修补屏幕进行烘烤,以消除所述修补屏幕上的所述屏幕杂质的步骤,包括:

所述烘烤的温度为90℃以上,所述烘烤的时间为3小时以上。

3.根据权利要求2所述的方法,其特征在于,所述烘烤的温度为90℃且所述烘烤的时间为4小时;或者,所述烘烤的温度为120℃且所述烘烤的时间为3小时;或者,所述烘烤的温度为150℃且所述烘烤的时间为3小时。

4.根据权利要求1所述的方法,其特征在于,通过镭射激光,对所述目标屏幕的固有缺陷进行修补,得到修补屏幕的步骤之前,所述方法还包括:

通过扎针驱动检测方法检验所述目标屏幕是否存在固有缺陷;

若所述目标屏幕存在固有缺陷,则执行所述通过镭射激光,对所述目标屏幕的固有缺陷进行修补,得到修补屏幕的步骤。

5.根据权利要求1所述的方法,其特征在于,对所述修补屏幕进行烘烤,以消除所述修补屏幕上的所述屏幕杂质的步骤之后,所述方法还包括:

将烘烤后的所述修补屏幕作为最终屏幕;

通过扎针驱动检测方法检测所述最终屏幕中的屏幕杂质,得到所述最终屏幕的屏幕质量;

根据所述屏幕质量,对所述最终屏幕进行分类。

6.一种屏幕杂质的处理装置,其特征在于,所述装置包括:

切割模块,用于对预先获取的初始屏幕进行切割,得到多个目标屏幕;

镭射修补模块,用于通过镭射激光,对所述目标屏幕的固有缺陷进行修补,得到修补屏幕;

烘烤模块,用于对所述修补屏幕进行烘烤,以消除所述修补屏幕上的所述屏幕杂质。

7.一种屏幕杂质的处理系统,其特征在于,所述处理系统用于执行权利要求1-5任一项所述的屏幕杂质的处理方法;所述屏幕杂质的处理系统包括:切割结构、镭射修补结构和烘烤结构;

切割结构,用于对预先获取的初始屏幕进行切割,得到多个目标屏幕;

镭射修补结构,用于通过镭射激光,对所述目标屏幕的固有缺陷进行修补,得到修补屏幕;

烘烤结构,用于对所述修补屏幕进行烘烤,以消除所述修补屏幕上的所述屏幕杂质。

8.根据权利要求7所述的处理系统,其特征在于,所述处理系统还包括:翻转结构、定位结构、承接结构、点灯结构和出货结构;

所述翻转结构,用于对屏幕进行翻转;

所述定位结构,用于对屏幕进行定位校准;

所述目标屏幕放置于所述承接结构上;

所述点灯结构,用于通过扎针驱动检测方法检验屏幕是否存在缺陷;

所述出货结构,用于对屏幕分别进行打包并出货。

9.根据权利要求8所述的处理系统,其特征在于,所述点灯结构包括第一点灯结构和第二点灯结构;

所述第一点灯结构,用于通过扎针驱动检测方法检验所述目标屏幕是否存在固有缺陷;

所述第二点灯结构,用于通过所述扎针驱动检测方法检验最终屏幕的屏幕质量。

10.一种电子设备,其特征在于,包括处理器和存储器,所述存储器存储有能够被所述处理器执行的机器可执行指令,所述处理器执行所述机器可执行指令以实现权利要求1至5任一项所述的处理方法。

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