[发明专利]一种存储设备的测试方法、装置、电子设备及可读介质

权利要求书

1.一种存储设备的测试方法，其特征在于，所述方法包括：

将一组待测存储设备区分为第一集合和第二集合；所述第一集合包含所述一组待测存储设备中非异常的第一待测存储设备；所述第二集合包含所述一组待测存储设备中异常的第二待测存储设备；所述一组待测存储设备中的部分待测存储设备共享同一测试信号；

为所述第一集合中的所述第一待测存储设备配置第一卷地址，以及为所述第二集合中的所述第二待测存储设备配置第二卷地址；

向所述一组待测存储设备中的每一个待测存储设备发送选择命令；所述选择命令用于仅选择所述第一卷地址对应的第一集合；

使所述第一集合中的所述第一待测存储设备执行预设测试步骤。

2.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，在所述将一组待测存储设备区分为第一集合和第二集合之前，所述方法还包括：

激活所述每一个待测存储设备的配置及选择机制，其中，所述配置及选择机制为开放式NAND闪存接口单元ONFI标准中的特定功能。

3.根据权利要求2所述的方法，其特征在于，所述激活所述每一个待测存储设备的配置及选择机制，包括：

向所述每一个待测存储设备发送读取状态命令，对所述每一个待测存储设备进行复位，以激活所述所述每一个待测存储设备的配置及选择机制。

4.根据权利要求2所述的方法，其特征在于，所述将一组待测存储设备区分为第一集合和第二集合，包括：

获取前一轮测试中对所述每一个待测存储设备的测试结果；所述测试结果用于指明所述每一个待测存储设备在所述前一轮测试中是否出现异常；

基于所述每一个待测存储设备的所述测试结果将所述一组待测存储设备区分为第一集合和第二集合；

其中，所述第一集合包含的所述第一待测存储设备为所述一组待测存储设备中在所述前一轮测试中未出现异常的待测存储设备；所述第二集合包含的所述第二待测存储设备为所述一组待测存储设备中在所述前一轮测试中出现异常的待测存储设备。

5.根据权利要求4所述的方法，其特征在于，所述为所述第一集合中的所述第一待测存储设备配置第一卷地址，以及为所述第二集合中的所述第二待测存储设备配置第二卷地址，包括：

利用所述ONFI标准中的配置机制逐行的为所述第一集合中的所述第一待测存储设备配置具有所述第一卷地址；以及利用所述ONFI标准中的所述配置机制逐行的为所述第二集合中的所述第二待测存储设备配置具有所述第二卷地址；

或，利用所述ONFI标准中的所述配置机制逐列的为所述第一集合中的所述第一待测存储设备配置具有所述第一卷地址；以及利用所述ONFI标准中的所述配置机制逐列的为所述第二集合中的所述第二待测存储设备配置具有所述第二卷地址。

6.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，在所述向所述一组待测存储设备中的每一个待测存储设备发送选择命令之前，所述方法还包括：

重新选中所述一组待测存储设备中的所述每一个待测存储设备。

7.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述方法还包括：

判断本轮测试是否为最后一轮测试；基于判断结果确定是否结束测试。

8.根据权利要求7所述的方法，其特征在于，所述方法还包括：

在所述判断结果为所述本轮测试是最后一轮测试时，结束测试；

在所述判断结果为所述本轮测试非最后一轮测试时，继续将所述第一集合中的所述第一待测存储设备进行区分为不同集合，并对不同集合中的待测存储设备直到以下情况之一结束测试：所述判断结果为所述本轮测试是最后一轮测试；所述第一集合为空集。

9.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述异常为测试超时。

10.根据权利要求1至9任一项所述的方法，其特征在于，所述测试信号为以下至少之一：芯片使能信号、写使能信号、读使能信号、指令锁存使能信号、地址锁存使能信号、就绪/忙碌信号。