[发明专利]一种存储设备的测试方法、装置、电子设备及可读介质

说明书

本发明实施例公开一种存储设备的测试方法、装置、电子设备及存储介质。其中，测试方法包括：将一组待测存储设备区分为第一集合和第二集合；所述第一集合包含所述一组待测存储设备中非异常的第一待测存储设备；所述第二集合包含所述一组待测存储设备中异常的第二待测存储设备；为所述第一集合中的所述第一待测存储设备配置第一卷地址，以及为所述第二集合中的所述第二待测存储设备配置第二卷地址；向所述一组待测存储设备中的每一个待测存储设备发送选择命令；所述选择命令用于仅选择所述第一卷地址对应的第一集合；使所述第一集合中的所述第一待测存储设备执行预设测试步骤。

技术领域

本发明涉及存储器技术领域，尤其涉及一种存储设备的测试方法、装置、电子设备及可读介质。

背景技术

在闪存(FLASH)的测试中，往往会有老化测试(BIT，Burn In Test)以找出一些早期失效的芯片。在老化测试中，会使用老化测试板(Burn In Board)。目前的老化测试板上的测试主机的测试通道比较少，老化测试板上的多个待测存储设备(DUT，Device UnderTest)的部分DUT需要共享这些测试通道。在这种情况下，共享测试通道的DUT中任一出现异常，共享测试通道的其他DUT需等待该出现异常的DUT完成与其他DUT相同测试项或操作后才能进行下一个测试项或操作，这样整个测试时间比较长，严重影响测试效率。

发明内容

有鉴于此，本发明实施例提供一种存储设备的测试方法、装置、电子设备及存储介质，以优化对FLASH老化测试的测试时间，达到节约成本。

第一方面，本发明实施例提供一种存储设备的测试方法，所述方法包括：

将一组待测存储设备区分为第一集合和第二集合；所述第一集合包含所述一组待测存储设备中非异常的第一待测存储设备；所述第二集合包含所述一组待测存储设备中异常的第二待测存储设备；所述一组待测存储设备中的部分待测存储设备共享同一测试信号；

为所述第一集合中的所述第一待测存储设备配置第一卷地址，以及为所述第二集合中的所述第二待测存储设备配置第二卷地址；

向所述一组待测存储设备中的每一个待测存储设备发送选择命令，所述选择命令用于仅选择所述第一卷地址对应的第一集合；

使所述第一集合中的所述第一待测存储设备执行预设测试步骤。

第二方面，本发明实施例还提供一种存储设备的测试装置，所述装置包括：区分模块、配置模块、发送模块和执行模块，其中；

所述区分模块，用于将一组待测存储设备区分为第一集合和第二集合；所述第一集合包含所述一组待测存储设备中非异常的第一待测存储设备；所述第二集合包含所述一组待测存储设备中异常的第二待测存储设备；所述一组待测存储设备中的部分待测存储设备共享同一测试信号；

所述配置模块，用于为所述第一集合中的所述第一待测存储设备配置第一卷地址，以及为所述第二集合中的所述第二待测存储设备配置第二卷地址；

所述发送模块，用于向所述一组待测存储设备中的每一个待测存储设备发送选择命令，所述选择命令用于仅选择所述第一卷地址对应的第一集合；

所述执行模块，用于使所述第一集合中的所述第一待测存储设备执行预设测试步骤。

第三方面，本发明实施例还提供一种电子设备，所述电子设备包括存储器和处理器，其中，所述存储器中存储有指令；

所述处理器用于运行所述存储器中的指令，所述指令被处理器运行时，实现上述任一项所述的方法。

第四方面，本发明实施例还提供一种计算机可读存储介质，其上存储有计算机程序，所述计算机程序处理器执行时，实现上述任一项所述的方法