[发明专利]光纤陀螺仪分辨率的测量方法、系统、可读存储介质

权利要求书

1.一种光纤陀螺仪分辨率的测量方法，其特征在于，所述测量方法包括：

将光纤陀螺仪固定在双轴速率位置转台上，使所述光纤陀螺仪的轴向与所述双轴速率位置转台的内轴平行；

控制所述双轴速率位置转台的内轴以设定的旋转角速度旋转；

控制所述双轴速率位置转台的外轴的旋转角度位置，使所述双轴速率位置转台的内轴上的地球自转角速度投影分量为0；

控制所述双轴速率位置转台的外轴的旋转角度位置，使所述双轴速率位置转台的内轴上的地球自转角速度投影分量为待测角速度增量；

控制所述双轴速率位置转台的外轴的旋转角度位置，以改变所述双轴速率位置转台的内轴上的地球自转角速度投影分量，得到所述光纤陀螺仪的分辨率。

2.根据权利要求1所述的光纤陀螺仪分辨率的测量方法，其特征在于，所述采集所述光纤陀螺仪输出角速度的时间为所述速率位置转台的内轴转一圈或一圈的整数倍。

3.根据权利要求1或2所述的光纤陀螺仪分辨率的测量方法，其特征在于，在所述双轴速率位置转台的内轴上的地球自转角速度投影分量为0时，采集所述光纤陀螺仪输出的第一角速度，并计算第一平均值，在所述双轴速率位置转台的内轴上的地球自转角速度投影分量为待测角速度增量时，采集所述光纤陀螺仪输出的第二角速度，并计算第二平均值，所述第二平均值相对于所述第一平均值的增量等于所述待测角速度增量按光纤陀螺仪标度因数K计算出的理论角速度增量的50％～150％。

4.一种光纤陀螺仪分辨率的测量系统，其特征在于，所述测量系统包括：

第一固定单元，用于将光纤陀螺仪固定在双轴速率位置转台上，使所述光纤陀螺仪的轴向与所述双轴速率位置转台的内轴平行；

第一内轴控制单元，用于控制所述双轴速率位置转台的内轴以设定的旋转角速度旋转；

第一外轴控制单元，用于控制所述双轴速率位置转台的外轴的旋转角度位置，使所述双轴速率位置转台的内轴上的地球自转角速度投影分量为0；

第二外轴控制单元，用于控制所述双轴速率位置转台的外轴的旋转角度位置，使所述双轴速率位置转台的内轴上的地球自转角速度投影分量为待测角速度增量；

第一分辨率测量单元，用于控制所述双轴速率位置转台的外轴的旋转角度位置，以改变所述双轴速率位置转台的内轴上的地球自转角速度投影分量，得到所述光纤陀螺仪的分辨率。

5.一种可读存储介质，其特征在于，所述可读存储介质包括一种光纤陀螺仪分辨率的测量方法程序，所述测量方法程序被处理器执行时，实现如权利要求1-3中任一项所述的光纤陀螺仪分辨率的测量方法。

6.一种光纤陀螺仪分辨率的测量方法，其特征在于，所述测量方法包括：

将光纤陀螺仪固定在三轴速率位置转台上，使所述光纤陀螺仪的轴向与所述三轴速率位置转台内轴平行；

控制所述三轴速率位置转台的内轴以设定的旋转角速度旋转；

控制所述三轴速率位置转台的中轴和外轴的旋转角度位置，使所述三轴速率位置转台的内轴上的地球自转角速度投影分量为0；

控制所述三轴速率位置转台的中轴和外轴的旋转角度位置，使所述三轴速率位置转台的内轴上的地球自转角速度投影分量为待测角速度增量；

控制所述三轴速率位置转台的外轴的旋转角度位置，以改变所述三轴速率位置转台的内轴上的地球自转角速度投影分量，得到所述光纤陀螺仪的分辨率。

7.根据权利要求6所述的光纤陀螺仪分辨率的测量方法，其特征在于，所述采集所述光纤陀螺仪输出角速度的时间为所述速率位置转台的内轴转一圈或一圈的整数倍。

8.根据权利要求6或7所述的光纤陀螺仪分辨率的测量方法，其特征在于，在所述三轴速率位置转台的内轴上的地球自转角速度投影分量为0时，采集所述光纤陀螺仪输出的第一角速度，并计算第一平均值，在所述三轴速率位置转台的内轴上的地球自转角速度投影分量为待测角速度增量时，采集所述光纤陀螺仪输出的第二角速度，并计算第二平均值，所述第二平均值相对于所述第一平均值的增量等于所述待测角速度增量按光纤陀螺仪标度因数K计算出的理论角速度增量的50％～150％。