[发明专利]接触式检测透明件厚度的装置及其使用方法

说明书

本申请涉及一种接触式检测透明件厚度的装置及其使用方法。装置包括承载组件、多个测距组件和处理器。承载组件用于承载透明件。每个测距组件包括第一接触探头和第二接触探头，第二接触探头位于第一接触探头的上方。处理器与多个测距组件电性连接，处理器用于记录及校准归零器第一接触探头与第二接触探头的测量数据。本申请可以通过调节多个测距组件的位置测量透明件任意点厚度，如此使其具有大面积厚度检测的功能，同时本申请采用接触式测量，测量精确度高。此外，处理器处理后的数据可以直接读取，操作方便，易操作，测量效率高。

技术领域

本申请涉及一种检测装置，特别是涉及一种接触式检测透明件厚度的装置及其使用方法。

背景技术

在汽车、轨道交通、航空、航天等领域的透明件需具备良好的力学性能，同时透明件又是典型的脆性材料，其抗拉强度低，加工过程、产品的使用过程会对透明件强度的影响因素有很多，但为了保证强度，需要保证透明件透明区域的厚度，并对其进行测量验证。

在实现本申请过程中，申请人发现现有的测量方法有主要有：

1、使用游标卡尺或千分尺进行测量，但由于开口尺寸的限制，使用以上测量工具只能测量到透明件边部的厚度，测量不到透明件中心位置的厚度，且透明件为脆性材料，接触测量可能会造成划伤。

2、使用超声波测厚仪检测透明件厚度，由于层合后的透明件为多层材料复合，利用超声波测量厚度，超声波在不同材料的反射会出现不同，导致测量误差，所以超声波测量仪只能检测一种材料的厚度，如可以检测单片透明件的厚度。

因此，急需一种具有可大面积厚度检测，不受形状限制，可任意调节测量位置，在接触时不易造成划伤，操作方便，测量数据准确的测量装置。

发明内容

为解决上现有测量方式所存在的技术问题，本申请实施例提供一种接触式检测透明件厚度的装置及其使用方法。具体的技术方案如下：

第一方面，提供一种接触式检测透明件厚度的装置，其包括承载组件、多个测距组件和处理器。承载组件用于承载透明件。每个测距组件包括第一接触探头和第二接触探头，第二接触探头位于第一接触探头的上方。处理器与多个测距组件电性连接，处理器用于记录及校准归零器第一接触探头与第二接触探头的测量数据。

在第一方面的第一种可能实现方式中，承载组件包括多个托架，多个托架呈对称设置，多个托架用于承载透明件。

结合第一方面的第一种可能实现方式，在第一方面的第二种可能实现方式中，承载组件还包括支撑台，多个托架呈对称设置于支撑台上。

结合第一方面的第一种可能实现方式，在第一方面的第三种可能实现方式中，每个托架使用直角板结构。

在第一方面的第四种可能实现方式中，第一接触探头和第二接触探头分别具有一光学感知元器件，光学感知元器件用于确认测量点位与透明件法相是否垂直。

在第一方面的第五种可能实现方式中，第一接触探头和第二接触探头的接触头采用聚四氟乙烯材质制成。

在第一方面的第六种可能实现方式中，多个测距组件的数量为四个。

第二方面，提供一种根据上述第一方面中任意一项的接触式检测透明件厚度的装置的使用方法，其包括以下步骤：将透明件放置于承载组件上；打开处理器，控制每个测距组件的第一接触探头与第二接触探头间隙归零；将第一接触探头与透明件的下方测量点位接触，并使第一接触探头的接触方向与透明件法相垂直；将第二接触探头与透明件的上方测量点位接触，并使第二接触探头的接触方向与透明件法相垂直，处理器记录第一接触探头与第二接触探头的测量数据。

在第二方面的第一种可能实现方式中，透明件是放置于多个托架上的。

在第二方面的第二种可能实现方式中，第一接触探头和第二接触探头与透明件的接触方向是通过光学感知元器件确认的。