[发明专利]一种用于液晶半导体绝缘性测试的绝缘特性测试系统

权利要求书

1.一种用于液晶半导体绝缘性测试的绝缘特性测试系统，其特征在于：包括可并排放置若干半导体的测试台(100)和测试台(100)上方设置的用于测试半导体绝缘性的测试装置(200)，所述测试装置(200)包括位于测试台(100)上方并排设置的若干蓄电池(210)、位于若干蓄电池(210)下方设置的若干电压表(220)、与蓄电池(210)和电压表(220)分别通过导线电性连接的若干组测试针(230)以及用于驱动若干组测试针(230)在上翻状态和下翻状态之间切换的测试轴(240)和正反转电机(250)，所述测试针(230)呈柱形折弯结构且其一端粘接有转套(231)，所述转套(231)的中轴线方向与测试针(230)的粘接段中轴线方向垂直，所述转套(231)与测试轴(240)紧密套接配合，每组测试针为四个，测试台(100)的顶面且位于每组测试针(230)下方开设有测试口(101)，测试口(101)可定位放置半导体，所述测试台(100)顶面上安装有常开开关(211)，每个所述蓄电池(210)的负极与其正下方且位于最左侧的测试针(230)之间电性连接有输电导线(270)，所述常开开关(211)与若干蓄电池(210)的正极以及蓄电池(210)正下方位于最右侧的测试针(230)之间通过输电导线(270)电性连接，按压常开开关(211)可接通每个蓄电池(210)与其正极连接的测试针(230)，从而接通蓄电池(210)所在电路，每个所述电压表(220)的正负端与其正下方的一组测试针中的中间两个测试针(230)分别通过输电导线(270)连接，利用测试轴(240)同步带动每个测试口(101)上方的四个测试针(230)触压半导体，然后通过蓄电池(210)为每个测试口(101)处左右两侧的测试针(230)通入电流，再通过电压表(220)测得中间两个测试针(230)之间的电压值，通过所述电压值确定所述半导体的绝缘性。

2.根据权利要求1所述的用于液晶半导体绝缘性测试的绝缘特性测试系统，其特征在于：所述测试轴(240)的一端与正反转电机(250)同轴连接，所述测试台(100)的顶面后方设置有与测试轴(240)两端插接的撑轴块(105)。

3.根据权利要求1所述的用于液晶半导体绝缘性测试的绝缘特性测试系统，其特征在于：所述测试台(100)的顶面后方垂直设有固定板(104)，所述固定板(104)的前侧面通过螺栓固定连接有若干测试盒(260)，所述蓄电池(210)和电压表(220)置于测试盒(260)内。

4.根据权利要求3所述的用于液晶半导体绝缘性测试的绝缘特性测试系统，其特征在于：所述测试盒(260)的前端面开口且卡接有盒盖(261)，所述盒盖(261)的下半段开设有观察口(2611)，所述测试盒(260)的底面后方开设有若干线孔(262)。

5.根据权利要求1所述的用于液晶半导体绝缘性测试的绝缘特性测试系统，其特征在于：所述测试台(100)的前端中部开设有呈长方形空腔结构的出料槽(102)，所述出料槽(102)与若干所述测试口(101)在竖向上相连通，所述出料槽(102)内且位于每个测试口(101)的左右两侧均设置有用于将测试口(101)内半导体向外输送的拨料带(300)，所述拨料带(300)的循环移动方向与出料槽(102)的宽度方向呈垂直。

6.根据权利要求5所述的用于液晶半导体绝缘性测试的绝缘特性测试系统，其特征在于：所述拨料带(300)的前后端内套设有套带环(310)，所述出料槽(102)的底面开设有向下贯穿的插孔(103)，所述套带环(310)的中心孔内紧密插接有销钉且销钉与插孔(103)插接并可旋转，其中拨料带(300)后端的套带环(310)下方同轴连接伺服电机(320)。