[发明专利]一种用于液晶半导体绝缘性测试的绝缘特性测试系统

说明书

本发明公开了一种用于液晶半导体绝缘性测试的绝缘特性测试系统，其包括可并排放置若干半导体的测试台和测试台上方设置的用于测试半导体绝缘性的测试装置，测试装置包括位于测试台上方并排设置的若干蓄电池、位于若干蓄电池下方设置的若干电压表、与蓄电池和电压表分别通过导线电性连接的若干测试针。本发明通过设置的测试台和测试装置，利用若干测试口定位放置若干半导体，并利用测试轴同步带动每个测试口上方的四个测试针触压半导体，然后通过蓄电池为每个测试口处两外侧的测试针通入电流，再通过电压表测得中间两个测试针的电压，即可根据电阻率公式算得其绝缘性，其批量测试效率高，具有实用价值。

技术领域

本发明涉及半导体器件专用设备制造技术领域，具体为一种用于液晶半导体绝缘性测试的绝缘特性测试系统。

背景技术

液晶半导体即液晶材料和半导体材料的结合。半导体材料是现代高新技术中的重要材料之一，已在微电子器件和光电子器件中得到广泛应用。半导体材料的电阻率是其一个重要特性，关乎到其绝缘特性。直流四探针法是用于半导体材料电阻率测量的主要方法。它是通过四个探针同时接触半导体表面，向最外侧两个探针通入电流，测得中间两个探针间的电压，根据电阻率公式即可算得数值。现有测试大多通过测试员手动拿取探针接触单个半导体进行测量，其测试效率慢，且准备半导体堆码和拿取不保险不快速，不利于大批量的抽样测试。

发明内容

本发明的目的在于提供一种用于液晶半导体绝缘性测试的绝缘特性测试系统，以解决上述背景技术中提出的问题。

为实现上述目的，本发明提供一种用于液晶半导体绝缘性测试的绝缘特性测试系统，包括可并排放置若干半导体的测试台和测试台上方设置的用于测试半导体绝缘性的测试装置，所述测试装置包括位于测试台上方并排设置的若干蓄电池、位于若干蓄电池下方设置的若干电压表、与蓄电池和电压表分别通过导线电性连接的若干测试针以及用于驱动若干测试针在上翻状态和下翻状态之间切换的测试轴和正反转电机，所述测试台顶面上安装有常开开关，每个所述蓄电池的负极与其正下方且位于最左侧的测试针之间电性连接有输电导线，所述常开开关与若干蓄电池的正极以及蓄电池正下方位于最右侧的测试针通过输电导线并联连接，每个所述电压表的正负端与其正下方的中间两个测试针分别通过输电导线连接。

作为本技术方案的进一步改进，所述测试台的顶面且位于每组若干测试针下方开设有测试口，所述测试针呈柱形折弯结构且其一端粘接有转套，所述转套的中轴线方向与测试针的粘接段中轴线方向呈垂直，所述转套与测试轴紧密套接配合。

作为本技术方案的进一步改进，所述测试轴的一端与正反转电机同轴连接，所述测试台的顶面后方设置有与测试轴两端插接的撑轴块。

作为本技术方案的进一步改进，所述测试台的顶面后方垂直设有固定板，所述固定板的前侧面通过螺栓固定连接有若干测试盒，所述蓄电池和电压表置于测试盒内。

作为本技术方案的进一步改进，所述测试盒的前端面开口且卡接有盒盖，所述盒盖的下半段开设有观察口，所述测试盒的底面后方开设有若干线孔。

作为本技术方案的进一步改进，所述测试台的前端中部开设有呈长方形空腔结构的出料槽，所述出料槽与若干所述测试口在竖向上相连通，所述出料槽内且位于每个测试口的左右两侧均设置有用于将测试口内半导体向外输送的拨料带，所述拨料带的循环移动方向与出料槽的宽度方向呈垂直。

作为本技术方案的进一步改进，所述拨料带的前后端内套设有套带环，所述出料槽的底面开设有向下贯穿的插孔，所述套带环的中心孔内紧密插接有销钉且销钉与插孔插接并可旋转，其中拨料带后端的套带环下方同轴连接伺服电机。

作为本技术方案的进一步改进，所述测试台的底面且位于每对拨料带之间悬置有收集盒，所述收集盒的前端延伸设有呈向上倾斜的引料台，所述收集盒和引料台的长宽均大于测试口的长宽，所述收集盒的内腔中设置有用于支托半导体的托料板和压簧。