[发明专利]一种控温测试台

权利要求书

1.一种控温测试台，用于承载电子元件并使电子元件能在不同温度下测试，其特征在于，所述控温测试台包括：

吹气元件，所述吹气元件内设有进气通道和出气通道，所述进气通道供预设温度的气体流入，所述出气通道供所述气体流出；

基座组件，包括基座与承托件，所述吹气元件与所述承托件分布在所述基座的两侧，所述承托件包括上承托件与下承托件，所述上承托件面向所述下承托件的一侧设有第一凹槽，上承托件与下承托件组装后，所述第一凹槽被覆盖形成流通腔；所述上承托件背向所述下承托件的一侧设有第二凹槽；

所述基座上开设第一通孔，所述吹气元件上设有第三通孔，所述第三通孔与所述第二凹槽通过所述第一通孔连通，形成测试区，所述电子元件位于所述测试区中；

所述第二凹槽的底壁设有与所述流通腔连通的穿孔，以使所述流通腔向所述测试区输送所述气体；

探针，安装于所述基座组件中，并贯穿所述流通腔，以使所述气体能够流经所述探针，所述探针穿设于所述穿孔中，且与所述穿孔间隙配合，所述探针的头部穿出所述穿孔并深入所述测试区，以与所述电子元件接触。

2.根据权利要求1所述的控温测试台，其特征在于，所述承托件上开设连通所述流通腔与所述进气通道的进气口；

和/或，所述承托件上开设连通所述流通腔与所述出气通道的出气口。

3.根据权利要求2所述的控温测试台，其特征在于，所述吹气元件上设有通气管，所述通气管穿过所述基座并与所述进气口和/或所述出气口连通且密封，以防止所述气体泄露。

4.根据权利要求1所述的控温测试台，其特征在于，所述上承托件包括第一上承托件和第二上承托件，所述第一上承托件设在所述第二上承托件背向所述下承托件的一侧，所述第一上承托件上设有第二通孔，所述第二上承托件覆盖所述第二通孔的端口以与所述第二通孔形成所述第二凹槽，所述第二上承托件上开设所述穿孔。

5.根据权利要求4所述的控温测试台，其特征在于，所述下承托件上设有固定孔，所述探针的一端固定在所述固定孔中，所述探针的另一端通过所述穿孔伸入所述第二凹槽中，并与所述电子元件接触连接。

6.根据权利要求1~5任一项所述的控温测试台，其特征在于，所述进气通道与所述出气通道设置于所述测试区两侧，所述出气通道包括第一出气通道和第二出气通道，所述第一出气通道与所述流通腔连通，所述第二出气通道设在所述第一出气通道远离所述流通腔的一端，所述第二出气通道设有至少两个，至少两个所述第二出气通道沿所述测试区的周向间隔设置。

7.根据权利要求1所述的控温测试台，其特征在于，所述控温测试台还包括引气元件，所述引气元件与所述吹气元件连通，以将所述气体引入所述吹气元件中。

8.根据权利要求7所述的控温测试台，其特征在于，所述基座上开设多排第一通孔组，每排所述第一通孔组包括多个第一通孔，每个第一通孔的两侧均设有承托件和吹气元件，所述引气元件同时与多个所述吹气元件连通。