[发明专利]一种基于激光跟踪仪的设备同轴度测量方法

权利要求书

1.一种基于激光跟踪仪的设备同轴度测量方法，其特征在于，包括：

将激光跟踪仪设站在第一轴体和第二轴体的相对的两轴端面之间；

基于所述激光跟踪仪确定所述第一轴体的中心轴线作为第一角度特征线；

基于所述激光跟踪仪确定所述第一轴体的第一角度特征线与轴端面的交点，作为第一距离特征点；

基于所述激光跟踪仪确定所述第二轴体的中心轴线，作为第二角度特征线；

基于所述激光跟踪仪确定所述第二轴体的第二角度特征线与轴端面的交点，作为第二距离特征点；

基于所述激光跟踪仪确定所述第二轴体的中心轴线与所述第一轴体的轴端面的交点，作为平行特征点；

确定所述第一距离特征点和所述第二距离特征点的距离，作为开口大小；

确定所述第一角度特征线和所述第二角度特征线的夹角，作为轴角度不对中值；

确定所述第一距离特征点与所述平行特征点的距离，作为轴平行不对中值。

2.如权利要求1所述的基于激光跟踪仪的设备同轴度测量方法，其特征在于，所述基于所述激光跟踪仪确定第一轴体的中心轴线包括：

在所述第一轴体的周面布置靶球，并沿周面获取采样点；

基于所述采样点进行圆周拟合得到圆周面；

获取于所述圆周面的圆心处垂直于所述圆周面的射线，得到第一轴体的中心轴线。

3.如权利要求2所述的基于激光跟踪仪的设备同轴度测量方法，其特征在于，所述在所述第一轴体的周面布置靶球，并沿周面获取采样点包括：

在所述第一轴体的周面上，按照周半径大于等于500mm设置靶球；

按照设定角度间隔转动所述第一轴体并获取一个采样点，且采样点大于等于6个。

4.如权利要求1所述的基于激光跟踪仪的设备同轴度测量方法，其特征在于，所述基于所述激光跟踪仪确定所述第一轴体的第一角度特征线与轴端面的交点包括：

基于所述激光跟踪仪，在所述第一轴体的轴端面取点，得到第一端面点位样本；

基于所述第一端面点位样本进行平面拟合，得到第一拟合平面；

沿所述第一角度特征线平移到第一轴体的轴端面的真实位置，并计算所述第一角度特征线与第一拟合平面相交点坐标。

5.如权利要求4所述的基于激光跟踪仪的设备同轴度测量方法，其特征在于，所述在所述第一轴体的轴端面取点包括：

在所述第一轴体的轴端面等间距取点，且取点数大于等于8个。

6.如权利要求1所述的基于激光跟踪仪的设备同轴度测量方法，其特征在于，所述基于所述激光跟踪仪确定所述第二轴体的中心轴线包括：

基于所述激光跟踪仪在所述第二轴体的轴身周面上获取多个点位样本；

基于所述多个点位样本拟合出柱面；

获取所述柱面回转中心线，作为所述第二轴体的中心轴线。

7.如权利要求6所述的基于激光跟踪仪的设备同轴度测量方法，其特征在于，所述基于所述激光跟踪仪确定所述第二轴体的中心轴线还包括：

基于所述激光跟踪仪，在所述第二轴体的轴端面取点，得到第二端面点位样本；

基于所述第二端面点位样本进行平面拟合，得到第二拟合平面；

获取所述第二拟合平面与柱面回转中心线的交点，并以所述交点做所述第二拟合平面的端面法线，作为所述第二轴体的中心轴线。

8.如权利要求7所述的基于激光跟踪仪的设备同轴度测量方法，其特征在于，所述基于所述激光跟踪仪确定所述第二轴体的中心轴线还包括：

获取并比较所述第二轴体的轴端面的平面度以及轴本体的圆柱度；

当所述第二轴体的轴端面的平面度小于所述第二轴体的轴本体的圆柱度，所述柱面回转中心线作为所述第二轴体的中心轴线；

当所述第二轴体的轴端面的平面度大于所述第二轴体的轴本体的圆柱度，所述第二拟合平面的端面法线作为所述第二轴体的中心轴线。