[发明专利]老化测试电路、老化测试系统及老化测试方法在审
申请号: | 202210187762.1 | 申请日: | 2022-02-28 |
公开(公告)号: | CN114660379A | 公开(公告)日: | 2022-06-24 |
发明(设计)人: | 郝懿 | 申请(专利权)人: | 深圳市鸿陆技术有限公司 |
主分类号: | G01R31/00 | 分类号: | G01R31/00;G01R1/04 |
代理公司: | 广州嘉权专利商标事务所有限公司 44205 | 代理人: | 洪铭福 |
地址: | 518000 广东省深圳市南山区西丽*** | 国省代码: | 广东;44 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 老化 测试 电路 系统 方法 | ||
1.老化测试电路,其特征在于,包括:
接口模块,所述接口模块用于与多个待测设备电连接;其中,所述待测设备用于生成接入状态信号;
开关模块,所述开关模块用于与所述接口模块电连接;
主控模块,所述主控模块的第一端口用于与所述开关模块电连接,所述主控模块的第二端口用于与所述开关模块电连接,所述主控模块的第三端口和所述主控模块的第四端口分别用于与所述接口模块电连接;其中,所述主控模块的第三端口用于获取所述接入状态信号,所述主控模块用于根据所述接入状态信号生成读卡信号和切换信号;
其中,所述待测设备用于根据所述读卡信号生成测试信号,所述开关模块用于根据所述切换信号分别切换所述主控模块的第一端口与多个所述待测设备的连接状态,所述主控模块用于根据所述测试信号进行老化测试操作。
2.根据权利要求1所述的老化测试电路,其特征在于,所述开关模块包括:
开关芯片,所述开关芯片的第一引脚用于与所述主控模块的第一端口电连接,所述开关芯片的第一引脚组用于与所述接口模块电连接,所述开关芯片的第二引脚组用于与所述主控模块的第二端口电连接。
3.根据权利要求2所述的老化测试电路,其特征在于,所述第一引脚组包括多个第二引脚,所述接口模块包括:
多个连接器,一个所述连接器用于与一个所述待测设备电连接,所述连接器的第一引脚用于与所述开关芯片的一个所述第二引脚电连接,所述连接器的第二引脚用于与所述主控模块的第四端口电连接。
4.根据权利要求3所述的老化测试电路,其特征在于,所述接口模块包括八个所述连接器。
5.根据权利要求1至4任一项所述的老化测试电路,其特征在于,还包括:
发声件,所述发声件用于与所述主控模块的第五端口电连接;
其中,所述主控模块用于根据老化测试结果生成第一反馈信号,所述发声件用于根据所述第一反馈信号进行发声操作。
6.根据权利要求1至4任一项所述的老化测试电路,其特征在于,还包括:
发光件,所述发光件用于与所述主控模块的第五端口电连接;
其中,所述主控模块用于根据老化测试结果生成第二反馈信号,所述发光件用于根据所述第二反馈信号进行发光操作。
7.老化测试系统,其特征在于,包括:
如权利要求1至6中任一项所述的老化测试电路;
多个待测设备;
其中,所述老化测试电路用于分别对多个所述待测设备进行老化测试操作。
8.老化测试方法,其特征在于,应用于如权利要求7所述的老化测试系统,所述老化测试方法包括:
主控模块获取接入状态信号;
主控模块根据所述接入状态信号发送读卡信号,接口模块将所述读卡信号发送给待测设备;
主控模块根据所述接入状态信号生成切换信号,开关模块根据所述切换信号切换所述主控模块的第一端口与多个所述待测设备的连接状态;
主控模块获取所述待测设备发送的测试信号,并根据所述测试信号生成判断结果;
若所述判断结果表示所述待测设备正常,再次执行所述主控模块根据所述接入状态信号生成所述切换信号。
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