[发明专利]老化测试电路、老化测试系统及老化测试方法

说明书

本发明公开了一种老化测试电路、老化测试系统及老化测试方法。其中，老化测试电路包括：接口模块、开关模块和主控模块。接口模块用于与多个待测设备电连接，待测设备用于生成接入状态信号；主控模块的第三端口用于获取接入状态信号，主控模块用于根据接入状态信号生成读卡信号和切换信号；待测设备用于根据读卡信号生成测试信号，开关模块用于根据切换信号分别切换主控模块的第一端口与多个待测设备的连接状态，主控模块用于根据测试信号进行老化测试操作。本发明的老化测试电路能够同时连接多个待测设备以进行老化测试操作，简化了测试的操作流程，从而提高了测试效率。

技术领域

本发明涉及老化测试技术领域，尤其是涉及一种老化测试电路、老化测试系统及老化测试方法。

背景技术

目前，读/写设备(如超高频射频识别(UHF RFID)设备)在长时间大功率工作后，会发生死机或者掉线等老化故障问题，因此，需要对读/写设备进行老化测试。

相关技术中，读/写设备的老化测试需要连接电脑进行检测。然而，上述方法需要将读/写设备依次与电脑连接，使得测试操作的流程复杂，从而影响了读/写设备的测试效率。

发明内容

本发明旨在至少解决现有技术中存在的技术问题之一。为此，本发明提出一种老化测试电路，能够同时连接多个待测设备以进行老化测试操作，简化了测试的操作流程，从而提高了测试效率。

本发明还提出一种具有上述老化测试电路的老化测试系统，以及一种应用于上述老化测试系统的老化测试方法。

根据本发明的第一方面实施例的老化测试电路，包括：

接口模块，所述接口模块用于与多个待测设备电连接；其中，所述待测设备用于生成接入状态信号；

开关模块，所述开关模块用于与所述接口模块电连接；

主控模块，所述主控模块的第一端口用于与所述开关模块电连接，所述主控模块的第二端口用于与所述开关模块电连接，所述主控模块的第三端口和所述主控模块的第四端口分别用于与所述接口模块电连接；其中，所述主控模块的第三端口用于获取所述接入状态信号，所述主控模块用于根据所述接入状态信号生成读卡信号和切换信号；

其中，所述待测设备用于根据所述读卡信号生成测试信号，所述开关模块用于根据所述切换信号分别切换所述主控模块的第一端口与多个所述待测设备的连接状态，所述主控模块用于根据所述测试信号进行老化测试操作。

根据本发明实施例的老化测试电路，至少具有如下有益效果：待测设备生成接入状态信号，主控模块的第三端口获取接入状态信号，主控模块的第四端口根据接入状态信号生成并发送读卡信号，待测设备根据读卡信号生成测试信号，主控模块的第二端口根据接入状态信号生成切换信号；开关模块根据切换信号分别切换主控模块的第一端口与多个待测设备的连接状态，使主控模块获取测试信号，并根据测试信号完成老化测试操作。本实施例的老化测试电路能够同时连接多个待测设备以进行老化测试操作，简化了测试的操作流程，从而提高了测试效率。

根据本发明的一些实施例，所述开关模块包括：

开关芯片，所述开关芯片的第一引脚用于与所述主控模块的第一端口电连接，所述开关芯片的第一引脚组用于与所述接口模块电连接，所述开关芯片的第二引脚组用于与所述主控模块的第二端口电连接。

根据本发明的一些实施例，所述第一引脚组包括多个第二引脚，所述接口模块包括：

多个连接器，一个所述连接器用于与一个所述待测设备电连接，所述连接器的第一引脚用于与所述开关芯片的一个所述第二引脚电连接，所述连接器的第二引脚用于与所述主控模块的第四端口电连接。

根据本发明的一些实施例，所述接口模块包括八个所述连接器。

根据本发明的一些实施例，还包括：