[发明专利]半导体器件的测试方法

权利要求书

1.一种半导体器件的测试方法，用于在半导体测试过程中，将UID写入半导体器件，其特征在于，包括：

编写测试程式，一个所述测试程式包含一个UID号池，一个所述UID号池被一个测试程式调用，并且，同一批次的半导体器件调用的测试程式相同；

将一个所述UID号池分为若干个UID号段；以及

将同一型号的半导体器件分成M份，采用N个测试机台同时对N份所述半导体器件进行测试，每个所述测试机台选择一份所述半导体器件进行测试，其中，每个所述测试机台的测试程式选用一个UID号段，不同所述测试机台选用的所述UID号段均不同，每个所述测试机台将对应的所述UID号段及其中的UID写入所述半导体器件中，并且，一个所述UID写入一个所述半导体器件，并且，N≤M。

2.如权利要求1所述的半导体器件的测试方法，其特征在于，所述UID号池包括多个UID，每个所述UID按照加一的方式保存在所述UID号池中。

3.如权利要求1所述的半导体器件的测试方法，其特征在于，每个所述UID号段包括若干个UID，每个所述UID按照加一的方式保存在UID号段中。

4.如权利要求1所述的半导体器件的测试方法，其特征在于，将一个所述UID号池平均分为若干个UID号段。

5.如权利要求1所述的半导体器件的测试方法，其特征在于，所述测试机台调用UID号段后，该号段标记为已使用的。

6.如权利要求1所述的半导体器件的测试方法，其特征在于，所述测试机选用UID号段之前，还包括：判断所述UID号段是否为已使用，如果没被使用，则选用该UID号段。

7.如权利要求6所述的半导体器件的测试方法，其特征在于，所述测试机台的当前UID号段包含的UID使用完之后，自动选用下一个没被使用的UID号段。

8.如权利要求1所述的半导体器件的测试方法，其特征在于，所有所述UID号段用完之后，所述测试机台报警。

9.如权利要求1所述的半导体器件的测试方法，其特征在于，所述UID号池的UID包括：0000000000～9999999999。

10.如权利要求1所述的半导体器件的测试方法，其特征在于，将所述UID号池分为5个UID号段，分别为第一号段、第二号段、第三号段、第四号段和第五号段，所述第一号段包括0000000000～1999999999的UID，所述第二号段包括2000000000～3999999999的UID，所述第三号段包括4000000000～5999999999的UID，所述第四号段包括6000000000～7999999999的UID，所述第五号段包括8000000000～9999999999的UID。

11.如权利要求1所述的半导体器件的测试方法，其特征在于，所述UID号池和UID号段均保存在数据库中。