[发明专利]半导体器件的测试方法

说明书

本发明提供了一种半导体器件的测试方法，包括：编写测试程式，一个测试程式包含一个UID号池，一个UID号池被一个测试程式调用，并且，同一型号的的半导体器件调用的测试程式相同；将同一型号的半导体器件分成M份，采用N个测试机台同时对N份所述半导体器件进行测试，每个所述测试机台选择一份所述半导体器件进行测试，其中，每个所述测试机台的测试程式选用一个UID号段，不同所述测试机台选用的所述UID号段均不同，每个所述测试机台将对应的所述UID号段及其中的UID写入所述半导体器件中，并且，一个所述UID写入一个所述半导体器件，并且，N≤M。

技术领域

本发明涉及半导体器件测试领域，尤其是涉及一种半导体器件的测试方法。

背景技术

在半导体晶圆测试过程中，有一类芯片需要写入UID号用来作为识别这块芯片的唯一编码。其中一种UID的写入需要从芯片的用户处申请，这种UID只能使用一次，不同的芯片需要写入不重复的UID，因此UID资源非常宝贵，因此，合理分配UID的使用非常重要。例如，金融卡、门禁卡等，一旦UID被写入该芯片，则无法擦除后重新写入。该UID要求是不能重复，而且在写入时尽量少的浪费。如果两颗芯片写入了同一个UID，则会造成芯片的报废。如果只有一台测试机写入UID，则没有UID分配的问题，然而，当有多台测试机一起测试时，需要合理分配UID的使用区间，防止重复使用同个UID。

然而，为了提高生产效率，通常在测试时都会分配多台测试机一起测试。因此，需要合理分配UID的使用区间，使得不同的测试机使用不同的UID号。在现有技术的半导体器件的测试过程中，不同的测试机通常会使用不同的测试程序，每个测试程序单独调用同一个UID号池，当这个号池中的UID用尽以后，则需要停下来，等待工程人员更新该程序对应的UID号池后才能继续测试。

因为在测试过程中，一个测试程式只能使用一个UID号池，一个UID号池只能被一个测试程式使用，从而防止UID被不同测试机台重复使用的问题。如果多个测试机台同时对同一型号的多批次半导体器件进行测试，就需要使用不同的UID号池，这样导致多个机台之间的测试程式不能互用，同时，一个UID号池被一个测试机台使用，不能最大限度地使用UID号池，更进一步的，同一型号的多批次半导体器件使用不同UID号池不方便后续追踪该型号半导体器件的质量问题。

发明内容

本发明的目的在于提供一种半导体器件的测试方法，在对同一型号的半导体器件进行测试时，可以多个测试机台调用同一测试程式，避免同一UID号池被不同测试机台调用的情况发生，从而避免减少芯片报废的几率。同时，可以多个测试机台同时使用同一个UID号池，最大限度地使用UID号池，提高测试效率。

为了达到上述目的，本发明提供了一种半导体器件的测试方法，用于在半导体测试过程中，将UID写入半导体器件，包括：

编写测试程式，一个所述测试程式包含一个UID号池，一个所述UID号池被一个测试程式调用，并且，同一型号的的半导体器件调用的测试程式相同；

将一个所述UID号池分为若干个UID号段；以及

将同一型号的半导体器件分成M份，采用N个测试机台同时对N份所述半导体器件进行测试，每个所述测试机台选择一份所述半导体器件进行测试，其中，每个所述测试机台的测试程式选用一个UID号段，不同所述测试机台选用的所述UID号段均不同，每个所述测试机台将对应的所述UID号段及其中的UID写入所述半导体器件中，并且，一个所述UID写入一个所述半导体器件，并且，N≤M。

可选的，在所述的半导体器件的测试方法中，所述UID号池包括多个UID，每个所述UID按照加一的方式保存在所述UID号池中。

可选的，在所述的半导体器件的测试方法中，每个所述UID号段包括若干个UID，每个所述UID按照加一的方式保存在UID号段中。

可选的，在所述的半导体器件的测试方法中，将一个所述UID号池平均分为若干个UID号段。