[发明专利]定位参数估计方法、装置、设备、存储介质和程序产品有效
申请号: | 202210226277.0 | 申请日: | 2022-03-09 |
公开(公告)号: | CN114325579B | 公开(公告)日: | 2022-07-15 |
发明(设计)人: | 刘升恒;黄永明;曹瑞松;郑旺;刘梦琦;齐望东 | 申请(专利权)人: | 网络通信与安全紫金山实验室 |
主分类号: | G01S5/08 | 分类号: | G01S5/08;G01S3/16;H04W64/00 |
代理公司: | 华进联合专利商标代理有限公司 44224 | 代理人: | 潘宏洲 |
地址: | 211111 江苏省南*** | 国省代码: | 江苏;32 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 定位 参数估计 方法 装置 设备 存储 介质 程序 产品 | ||
1.一种定位参数估计方法,其特征在于,用于基站中,所述方法包括:
获取目标终端的阵列接收信号,并确定所述阵列接收信号对应的信号子空间,其中,所述阵列接收信号为所述基站通过所述基站中的天线阵列接收到的;
根据所述信号子空间以及预先确定的扩展采样矩阵,确定系数矩阵,其中,所述扩展采样矩阵用于表征所述基站中的天线阵列的属性特征,所述扩展采样矩阵是根据采样矩阵和单位矩阵确定的,其中,所述采样矩阵基于试验天线阵列得到;
确定所述系数矩阵对应的频谱峰值,并根据所述频谱峰值,得到所述目标终端的定位参数;
所述根据所述信号子空间以及预先确定的扩展采样矩阵,确定系数矩阵,包括:
根据所述信号子空间以及所述扩展采样矩阵,得到中间矩阵;将所述中间矩阵进行分块处理,得到多个第一子矩阵;对于所述中间矩阵中的各对角线,将位于所述对角线上的第一子矩阵进行求和运算,得到所述对角线对应的第二子矩阵;根据多个所述第二子矩阵,确定所述系数矩阵。
2.根据权利要求1所述的方法,其特征在于,所述确定所述阵列接收信号对应的信号子空间,包括:
计算所述阵列接收信号对应的协方差矩阵;
对所述协方差矩阵进行特征值分解,得到所述协方差矩阵的多个特征值;
根据所述多个特征值,确定所述阵列接收信号对应的信号子空间。
3.根据权利要求2所述的方法,其特征在于,所述根据所述多个特征值,确定所述阵列接收信号对应的信号子空间,包括:
对所述多个特征值进行排序,并根据排序结果,确定分界排序值;
将所述多个特征值中大于所述分界排序值的特征值作为大特征值,根据所述大特征值对应的特征向量,确定所述阵列接收信号对应的信号子空间。
4.根据权利要求1所述的方法,其特征在于,所述根据所述多个第二子矩阵,确定所述系数矩阵,包括:
对各所述第二子矩阵中位于对角线上的矩阵元素进行求和运算,得到多个求和元素;
根据所述多个求和元素,确定所述系数矩阵。
5.根据权利要求1所述的方法,其特征在于,所述根据所述信号子空间以及所述扩展采样矩阵,得到中间矩阵,包括:
将所述信号子空间以及所述扩展采样矩阵根据公式进行计算,得到所述中间矩阵,其中,为所述扩展采样矩阵,为的共轭转置,为所述信号子空间,为的共轭转置,B(
6.根据权利要求1所述的方法,其特征在于,所述扩展采样矩阵的获取过程包括:
控制试验天线阵列旋转,并确定Q个旋转位置采样点,其中,所述试验天线阵列共包含多个天线,所述试验天线阵列根据所述基站中真实设置的天线阵列得到,Q为正整数;
对于各所述旋转位置采样点,在所述试验天线阵列旋转至所述旋转位置采样点时,获取所述试验天线阵列中的各天线接收到的试验阵列接收信号,其中,所述试验阵列接收信号是固定终端发送的;
根据在各所述旋转位置采样点处获取到的试验阵列接收信号,确定所述扩展采样矩阵。
7.根据权利要求6所述方法,其特征在于,所述根据在各所述旋转位置采样点处获取到的试验阵列接收信号,确定所述扩展采样矩阵,包括:
对于各所述天线,根据所述天线在各所述旋转位置采样点处获取到的试验阵列接收信号,确定所述天线对应的第一测量矢量;
对于各所述天线,将所述天线在各所述旋转位置采样点处获取到的试验阵列接收信号中,对获取时刻最早和获取时刻最晚的试验阵列接收信号进行剔除处理,根据剔除处理后剩余的多个试验阵列接收信号,确定所述天线对应的第二测量矢量;
对于各所述天线,将所述天线对应的第一测量矢量以及第二测量矢量进行合并处理,得到各所述天线对应的合并矢量;
根据各所述天线对应的合并矢量,确定所述扩展采样矩阵。
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