[发明专利]带扩展功能的多通道霍尔传感器多参数测试方法

说明书

本发明提供一种带扩展功能的多通道霍尔传感器多参数测试方法，包括：基于第一拓展功能接口接收第一测试环境参数，控制器基于所述第一测试环境参数控制所述温度控制装置和磁场控制装置构建第一测试环境；基于第二拓展功能接口接收标准相位差值数据；判断在第一测试环境下多通道霍尔传感器的所有通道分别输出电能信息，则获取多通道霍尔传感器所包括的每个双输出感应芯片的第一测试相位差信息；判断第一测试相位差信息与相对应的第一标准相位差信息相比满足预设要求，则获取多通道霍尔传感器中不同感应芯片的第二测试相位差信息，若所述第二测试相位差信息与第二标准相位差信息相比满足预设要求，则输出多参数测试结果。

技术领域

本发明涉及霍尔传感器测试技术领域，尤其涉及一种带扩展功能的多通道霍尔传感器多参数测试方法。

背景技术

列车在运行过程中，多是通过多通道霍尔传感器对其进行速度的检测。市场上的多通道霍尔传感器较多，不同的多通道霍尔传感器其组成方式也存在不同，有的多通道霍尔传感器中的感应元件分别为单输出感应芯片，有的多通道霍尔传感器中的感应元件分别为双输出感应芯片，有的多通道霍尔传感器中即存在单输出感应芯片又存在双输出感应芯片，所以对于多通道霍尔传感器的多个参数进行测试时需要进行根据多通道霍尔传感器的不同组成选取不同的测试方式，该种定制化的测试才能够实现对不同的多通道霍尔传感器进行精准的测试。

发明内容

本发明实施例提供一种带扩展功能的多通道霍尔传感器多参数测试方法，能够通过拓展功能实现定制化的对多通道霍尔传感器的多个参数进行测试，满足多通道霍尔传感器对不同通道之间的相位差的测量需求。

本发明实施例的第一方面，提供一种带扩展功能的多通道霍尔传感器多参数测试方法，包括控制器以及与所述控制器分别连接的温度控制装置和磁场控制装置，所述温度控制装置和磁场控制装置用于控制多通道霍尔传感器所处环境的温度和磁场，所述控制器分别连接有第一拓展功能接口和第二拓展功能接口，通过以下步骤进行测试，包括：

基于第一拓展功能接口接收第一测试环境参数，控制器基于所述第一测试环境参数控制所述温度控制装置和磁场控制装置构建第一测试环境，所述第一测试环境参数包括第一温度参数和第一磁场参数；

基于第二拓展功能接口接收标准相位差值数据，所述标准相位差值数据包括第一标准相位差信息和/或第二标准相位差信息，所述第一标准相位差信息为双输出感应芯片的标准相位差，所述第二标准相位差信息为不同感应芯片之间的标准相位差；

判断在第一测试环境下多通道霍尔传感器的所有通道分别输出电能信息，则获取多通道霍尔传感器所包括的每个双输出感应芯片的第一测试相位差信息；

判断第一测试相位差信息与相对应的第一标准相位差信息相比满足预设要求，则获取多通道霍尔传感器中不同感应芯片的第二测试相位差信息，若所述第二测试相位差信息与第二标准相位差信息相比满足预设要求，则输出多参数测试结果。

可选地，在第一方面的一种可能实现方式中，基于第一拓展功能接口接收第一测试环境参数，控制器基于所述第一测试环境参数控制所述温度控制装置和磁场控制装置构建第一测试环境，所述第一测试环境参数包括第一温度参数和第一磁场参数包括：

控制器获取所述第一温度参数，基于所述温度控制装置改变多通道霍尔传感器所处的温度直至第一温度参数；

控制器获取所述第一磁场参数，基于所述温度控制装置改变多通道霍尔传感器所处的磁场强度直至第一磁场参数。

可选地，在第一方面的一种可能实现方式中，基于第二拓展功能接口接收标准相位差值数据，所述标准相位差值数据包括第一标准相位差信息和/或第二标准相位差信息，所述第一标准相位差信息为双输出感应芯片的标准相位差，所述第二标准相位差信息为不同感应芯片之间的标准相位差包括：