[发明专利]绝缘子缺陷检测方法、装置、设备及存储介质

权利要求书

1.一种绝缘子缺陷检测方法，其特征在于，所述绝缘子缺陷检测方法包括：

在获取到待检测图像时，根据训练好的绝缘子检测模型从所述待检测图像中检测绝缘子对或绝缘子串，得到绝缘子检测框；

按照预设比例对所述绝缘子检测框进行放大，得到目标检测框；

根据训练好的绝缘子缺陷检测模型从所述目标检测框对应的图像中检测绝缘子缺陷，得到绝缘子缺陷检测结果。

2.如权利要求1所述的绝缘子缺陷检测方法，其特征在于，所述按照预设比例对所述绝缘子检测框进行放大，得到目标检测框之后，所述方法还包括：

确定所述目标检测框中多个绝缘子片对应的主方向；

根据所述主方向对所述目标检测框进行旋转，以使所述目标检测框中绝缘子对或绝缘子串处于水平方向，得到旋转处理后的目标检测框；

根据训练好的绝缘子缺陷检测模型从所述旋转处理后的目标检测框对应的图像中检测绝缘子缺陷，得到绝缘子缺陷检测结果。

3.如权利要求1所述的绝缘子缺陷检测方法，其特征在于，所述在获取到待检测图像时，根据训练好的绝缘子检测模型从所述待检测图像中检测绝缘子对或绝缘子串，得到绝缘子检测框之前，所述方法还包括：

获取样本图像和对应的标注信息，其中，所述标注信息包括绝缘子标注信息和缺陷标注信息；

根据所述样本图像和所述绝缘子标注信息对绝缘子检测模型进行训练，得到训练好的绝缘子检测模型；

根据所述样本图像和所述缺陷标注信息对绝缘子缺陷检测模型进行训练，得到训练好的绝缘子缺陷检测模型。

4.如权利要求3所述的绝缘子缺陷检测方法，其特征在于，所述获取样本图像和对应的标注信息之前，所述方法还包括：

若第一样本图像中存在成对的绝缘子串，则框选绝缘子对得到第一标注框，并根据绝缘子串特征为所述第一标注框标注绝缘子对类别，根据所述第一标注框和所述绝缘子对类别生成所述第一样本图像对应的绝缘子标注信息，其中，所述绝缘子对类别为玻璃绝缘子对、陶瓷绝缘子对、复合绝缘子对或其他绝缘子对；

若第二样本图像中包含单个绝缘子串，则框选绝缘子串得到第二标注框，并根据绝缘子串特征为所述第二标注框标注绝缘子串类别，根据所述第二标注框和所述绝缘子串类别生成所述第二样本图像对应的绝缘子标注信息，其中，所述绝缘子串类别为玻璃绝缘子串、陶瓷绝缘子串、复合绝缘子串或其他绝缘子串；

若第三样本图像中不包含绝缘子串，则将空标注信息作为所述第三样本图像对应的绝缘子标注信息。

5.如权利要求4所述的绝缘子缺陷检测方法，其特征在于，所述在获取到待检测图像时，根据训练好的绝缘子检测模型从所述待检测图像中检测绝缘子对或绝缘子串，得到绝缘子检测框，包括：

在获取到待检测图像时，将所述待检测图像输入至训练好的绝缘子检测模型，以检测所述待检测图像是否存在绝缘子对或绝缘子串；

确定各绝缘子对类别或各绝缘子串类别对应的置信度；

从各绝缘子对类别或各绝缘子串类别选择置信度最高的目标类别，并确定所述目标类别对应的绝缘子检测框。

6.如权利要求3所述的绝缘子缺陷检测方法，其特征在于，所述获取样本图像和对应的标注信息之前，所述方法还包括：

若第四样本图像中存在绝缘子串缺失缺陷，则框选缺失位置以及与缺失位置相邻的绝缘子片，得到第一缺陷标注框，并为所述第一缺陷标注框标注缺失类别，根据所述第一缺陷标注框和所述缺失类别生成所述第四样本图像对应的缺陷标注信息；

若第五样本图像中存在除绝缘子串缺失缺陷外的其他缺陷，则框选缺陷发生位置生成第二缺陷标注框，并为所述第二缺陷标注框标注缺陷类别，根据所述第二缺陷标注框和所述缺陷类别生成所述第五样本图像对应的缺陷标注信息；

若第六样本图像中不存在绝缘子缺陷，则将空标注信息作为所述第六样本图像对应的缺陷标注信息。