[发明专利]一种辐射定位和强度探测方法和系统以及电子设备、存储介质在审
申请号: | 202210244991.2 | 申请日: | 2022-03-14 |
公开(公告)号: | CN114397688A | 公开(公告)日: | 2022-04-26 |
发明(设计)人: | 张舒羽;韩东明;黄碗明;冯铁男 | 申请(专利权)人: | 核工业四一六医院;上海策溯科技有限公司 |
主分类号: | G01T1/16 | 分类号: | G01T1/16 |
代理公司: | 北京知果之信知识产权代理有限公司 11541 | 代理人: | 高科 |
地址: | 610057 四川*** | 国省代码: | 四川;51 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 一种 辐射 定位 强度 探测 方法 系统 以及 电子设备 存储 介质 | ||
1.一种辐射定位和强度探测方法,其特征在于,在辐射探测器组成的辐射成像面阵中增加两个互相垂直碲锌镉辐射强度传感器,所述辐射强度传感器分别垂直于所述辐射成像面阵,包括:
采用双目成像方案,获得辐射探测器所探测区域的三维立体视图;
获取所述三维立体视图下每个区域的辐射能量值;
标定所述三维立体视图的每个点与相对应的所述辐射能量值的数据。
2.根据权利要求1所述的方法,其特征在于,所述采用双目成像方案,获得辐射探测器所探测区域的三维立体视图,包括:
通过双目相机获取两个RGB彩色图像;
对所述RGB彩色图像进行校正,得到无畸变图像;
对所述无畸变图像进行特征分析,分别得到两个无畸变图像中的关键角点特征;
对两个无畸变图像的相似的关键角点特征进行匹配,获取多个共同图像特征点;
以所述辐射探测器为原点在所述两个无畸变图像中分别建立二维坐标系,获取所述共同图像特征点在所述二维坐标系中的二维坐标;
通过所述双目相机的固有距离、摆放角度以及所述两个二维坐标,计算同一个共同图像特征点在对应的以所述辐射探测器为原点建立的三维坐标系中的三维坐标;
将所有共同图像特征点的三维坐标组合,得到三维立体视图。
3.根据权利要求1所述的方法,其特征在于,所述获取所述三维立体视图下每个区域的辐射能量值,包括:
通过辐射探测器组成的辐射检测面阵,获取对应的每个视场区域的辐射剂量情况;
通过软件算法检测各个所述视场区域是否有辐射;
将有辐射的相邻的所述视场区域合并为辐射检出区;
采用重心法获得每个所述辐射检出区的辐射中心,以及该辐射中心的强度值。
4.根据权利要求3所述的方法,其特征在于,所述通过辐射探测器组成的辐射检测面阵,获取对应的每个视场区域的辐射剂量情况,包括:
在辐射探测器组成的辐射成像面阵中增加两个互相垂直碲锌镉辐射强度传感器,所述辐射强度传感器分别垂直于所述辐射成像面阵,基于互相垂直的三面辐射探测器建立辐射源坐标系;
对不同角度下探测到的辐射源进行标定,记录同一辐射源在不同角度下探测到的强度情况;
基于所述不同角度下探测到的强度情况得到整体辐射强度的比例关系。
5.根据权利要求1所述的方法,其特征在于,所述标定所述三维立体视图的每个点与相对应的所述辐射能量值的数据,包括:
在空间的不同位置分别测定所述三维立体视图中对应坐标以及相对应的所述辐射能量值的辐射源坐标,进行记录;
标定后,对空间的其余位置进行插值拟合,获得任意位置的所述三维立体视图的每个点与相对应的所述辐射能量值的数据的对应关系。
6.一种辐射定位和强度探测系统,其特征在于,包括:
双目成像模块,用于采用双目成像方案,获得辐射探测器所探测区域的三维立体视图;
辐射探测模块,用于获取所述三维立体视图下每个区域的辐射能量值;
对应标定模块,用于标定所述三维立体视图的每个点与相对应的所述辐射能量值的数据。
7.根据权利要求6所述的系统,其特征在于,所述双目成像模块,包括:
图像获取单元,用于通过双目相机获取两个RGB彩色图像;
图像校正单元,用于对所述RGB彩色图像进行校正,得到无畸变图像;
特征分析单元,用于对所述无畸变图像进行特征分析,分别得到两个无畸变图像中的关键角点特征;
特征匹配单元,用于对两个无畸变图像的相似的关键角点特征进行匹配,获取多个共同图像特征点;
坐标计算单元,用于通过所述双目相机的固有距离、摆放角度以及所述两个二维坐标,计算同一个共同图像特征点在对应的以所述辐射探测器为原点建立的三维坐标系中的三维坐标;
三维深度信息获取单元,用于将所有共同图像特征点的三维坐标组合,得到三维立体视图。
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