[发明专利]存在检测设备

权利要求书

1.一种存在检测设备，包括：

托盘本体；

设置在所述托盘本体的表面两侧的一组对射型光电传感器，用于检测落在所述托盘本体上的特定外形规格的被测物体的存在，其中，所述一组对射型光电传感器包括在所述托盘本体的表面上的一侧设置的一列光线发射部、以及在所述托盘本体的表面上的相对侧对应地设置的一列光线接收部；以及

与所述一组对射型光电传感器相连的检测结果输出单元，

其中，在所述托盘本体的表面上沿着所述一组对射型光电传感器的光线的方向设置有至少一行挡块，所述至少一行挡块中的每一行挡块包括间隔地布置的多个挡块，其中，所述多个挡块中的每一个挡块的高度均小于所述一组对射型光电传感器的光线到所述托盘本体的表面的距离H，其中，所述多个挡块中的两个相邻挡块之间的间距d₁小于所述被测物体的长度和宽度的最小值S_min，

其中，所述多个挡块包括高度不同的至少两种挡块，所述至少两种挡块中的第一种挡块的第一高度小于所述至少两种挡块中的第二种挡块的第二高度，并且其中，所述第二高度与所述被测物体的厚度T之和大于所述距离H。

2.根据权利要求1所述的存在检测设备，其中，在每一行挡块中，两个所述第一种挡块不被相邻地布置，并且其中，与一个所述第一种挡块左右相邻的两个挡块之间的间距d₂小于所述被测物体的长度和宽度的最小值S_min。

3.根据权利要求2所述的存在检测设备，其中，在每一行挡块中，两个同一种挡块不被相邻地布置，并且其中，所述至少两种挡块还包括第三种挡块，所述第三种挡块的高度大于所述第二种挡块的高度。

4.根据权利要求3所述的存在检测设备，其中，在每一行挡块中，与所述第一种挡块左右相邻的两个挡块不是同一种挡块，并且其中，所述两个挡块之间的间距d₂满足：

其中，h_a2表示所述两个挡块的高度差。

5.根据权利要求4所述的存在检测设备，其中，所述两个挡块之间的间距d₂还满足：

其中，h″表示所述两个挡块中较高的一个挡块的高度。

6.根据权利要求3所述的存在检测设备，其中，在每一行挡块中，两个相邻挡块之间的间距d₁满足：

其中，h_a1表示所述两个相邻挡块的高度差。

7.根据权利要求6所述的存在检测设备，其中，所述两个相邻挡块之间的间距d₁还满足：

其中，h′表示所述两个相邻挡块中较高的一个挡块的高度。

8.根据权利要求1所述的存在检测设备，其中，所述一组对射型光电传感器是安全光栅。

9.根据权利要求1所述的存在检测设备，其中，所述一组对射型光电传感器的相邻两条光线之间的间隔小于所述被测物体的长度和宽度的最小值S_min。

10.根据权利要求1所述的存在检测设备，其中，所述至少一行挡块中的相邻两行挡块之间的间隔小于所述被测物体的长度和宽度的最小值S_min。

11.根据权利要求1所述的存在检测设备，其中，所述检测结果输出单元包括声光报警器，并且其中，所述检测结果输出单元有线地或无线地连接到所述一组对射型光电传感器。

12.根据权利要求1所述的存在检测设备，其中，所述被测物体是半导体芯片或基片。